電子プローブマイクロアナライザー

日本電子㈱製 JXA8230

電子プローブマイクロアナライザー

概要

本装置は、集束された電子ビームを固体試料の表面に照射し、発生する特性X線を分光結晶により回折して、その波長と強度を測定することによって、非破壊で試料に含まれる元素の定性、定量分析を行うものである。Keyword: 化学,固体,元素,分析,電子,X線

装置の仕様・特色

1) 波長分散型X線分光器4基とエネルギー分散型X線検出器を装備し、それぞれの 長所を活かした利用の仕方ができ、且つ両者のデータを同時に処理できる。
2) 電子銃にWフィラメントとLaB6フィラメントが使用できる。
3) 薄片試料の透過光観察が可能な透過照明装置を装備している。

自己測定 依頼測定 学内 学外 CFPOU精算
設置年 2009
装置カテゴリ
適合分野 化学・地学系
管理部局 理学部
使用責任者

理学部(地)
野坂 俊夫
(内線 7883)

拠点

自然生命科学研究支援センター 分析計測・極低温部門 分析計測分野

研究成果 Pure: 岡山大学最新研究情報システム/共用設備プロファイリング

共同利用について

利用にあたっての留意事項

使用責任者の指示に従って使用

http://dia.kikibun.okayama-u.ac.jp/equipments/view/4
費用負担

使用時間に応じた費用負担が必要
(R5年度~)
自己測定
   (学内のみ): 110円/1時間
依頼測定   (カーボン蒸着含む)
    (学内):1,100円/1時間
   (大学等):3,300円/1時間
   (企業等):5,500円/1時間

http://dia.kikibun.okayama-u.ac.jp/files/upload/files/dia/3HP用_学内自己測定利用料金_現行.pdf
自己測定利用法

利用資格: 原則として利用講習を受講済の者。
利用の申請: 初めて利用する場合は,機器管理責任者か監守者に申請する。その他 の場合は, 分析計測分野WEBぺージの 機器予約システム を 用いて申請する。

管理責任者・監守者

 理学部地球科学科 野坂 俊夫 (内線 7883)

詳細情報 http://dia.kikibun.okayama-u.ac.jp/equipments/view/4
利用方法や利用規程 http://dia.kikibun.okayama-u.ac.jp/files/upload/files/dia/kitei_riyouyoukou.pdf
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