高性能走査プローブ顕微鏡 自己測定 学内 学外 CFPOU精算 規格：Bruker 社製高性能原子間力顕微鏡マルチモード8型AFM 管理番号：DIA_119 ／ 設置年：2014 拠点：分析計測・極低温部門分析計測分野
3次元光学プロファイラーシステム 自己測定 学内 学外 CFPOU精算 規格：Zygo社製 Newview 7300 管理番号：DIA_132 ／ 設置年：2009 拠点：分析計測・極低温部門分析計測分野
超精密現象デジタル解析装置 自己測定 学内 要利用資格 CFPOU精算 規格：Talor Hobson社製 Talyscan他 管理番号：145 ／ 設置年：2002 拠点：分析計測・極低温部門分析計測分野
超遠心機 自己測定 学内 学外 要利用資格 CFPOU精算 規格：Beckmann coulter社:OPTIMA L-70 管理番号：DGP_156 ／ 設置年：1991 拠点：ゲノム・プロテオーム解析部門
タンパク解析用LC-MSシステム 依頼測定 学内 学外 担当部局から連絡精算 規格：米国アジレント・テクノロジー ナノフロープロテオミクスソリューションシステム AGILENT XCTPLUS 管理番号：CRL_246 ／ 設置年：2005 拠点：医学部共同実験室
5000トン超高圧発生装置 自己測定 依頼測定 学内 学外 担当部局から連絡精算 規格：住友重機械工業㈱製 SHP-5000外 管理番号：IPM_268 ／ 設置年：1978 拠点：10.地球惑星科学研究拠点
