高性能走査プローブ顕微鏡 自己測定 学内 学外 CFPOU精算 規格:Bruker 社製高性能原子間力顕微鏡マルチモード8型AFM 管理番号:DIA_119 / 設置年:2014 拠点:分析計測・極低温部門分析計測分野
3次元光学プロファイラーシステム 自己測定 学内 学外 CFPOU精算 規格:Zygo社製 Newview 7300 管理番号:DIA_132 / 設置年:2009 拠点:分析計測・極低温部門分析計測分野
超精密現象デジタル解析装置 自己測定 学内 要利用資格 CFPOU精算 規格:Talor Hobson社製 Talyscan他 管理番号:145 / 設置年:2002 拠点:分析計測・極低温部門分析計測分野
超遠心機 自己測定 学内 学外 要利用資格 CFPOU精算 規格:Beckmann coulter社:OPTIMA L-70 管理番号:DGP_156 / 設置年:1991 拠点:ゲノム・プロテオーム解析部門
タンパク解析用LC-MSシステム 依頼測定 学内 学外 担当部局から連絡精算 規格:米国アジレント・テクノロジー ナノフロープロテオミクスソリューションシステム AGILENT XCTPLUS 管理番号:CRL_246 / 設置年:2005 拠点:05.医学部共同実験室
5000トン超高圧発生装置 自己測定 依頼測定 学内 学外 担当部局から連絡精算 規格:住友重機械工業㈱製 SHP-5000外 管理番号:IPM_268 / 設置年:1978 拠点:10.地球惑星科学研究拠点