日本電子 JXA-8800

概要
固体試料表面に電子線を照射、発生する特性X線を分光することで、微小領域の化学組成を測定する装置です。電子線で試料表面を走査して微細構造を観察することもできます。Keywords: EPMA、特性X線、波長分散
装置の仕様・特色
電子銃は熱電子放出型 (Wフィラメント)。波長分散型X線分光器5テャンネルを装備。各チャンネルの分光結晶には CH1: TAP/LDE2、CH2: TAP/LDE1、CH3: LIFH/PETH、CH4: PETJ/LIF、CH5: PETJ/LIFを選択できる。
謝辞掲載のお願い
本装置で得られたデータを外部に出版する際は、下記のとおり謝辞の記載をお願いいたします。
This work has been partly supported by Core-Facility at Okayama University(CFPOU IPM_011)

本研究はコアファシリティの支援を得て実施されました(CFPOU IPM_011)

本研究はコアファシリティの支援を得て実施されました(CFPOU IPM_011)
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自己測定
学内 学外
担当部局から連絡精算
設置年 | 1994 |
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CFPOU管理番号 | IPM_011 |
機器種別 | |
装置カテゴリ | |
適合分野 | 化学系 物理学系 地学系 |
管理部局 | 惑星物質研究所 |
サポート職員 | 惑星物質研究所 |
拠点 | 地球惑星科学研究拠点 |