電子プローブマイクロアナライザー

日本電子 JXA-8800

電子プローブマイクロアナライザー

概要

固体試料表面に電子線を照射、発生する特性X線を分光することで、微小領域の化学組成を測定する装置です。電子線で試料表面を走査して微細構造を観察することもできます。Keywords: EPMA、特性X線、波長分散

装置の仕様・特色

電子銃は熱電子放出型 (Wフィラメント)。波長分散型X線分光器5テャンネルを装備。各チャンネルの分光結晶には CH1: TAP/LDE2、CH2: TAP/LDE1、CH3: LIFH/PETH、CH4: PETJ/LIF、CH5: PETJ/LIFを選択できる。

謝辞掲載のお願い

本装置で得られたデータを外部に出版する際は、下記のとおり謝辞の記載をお願いいたします。

This work has been partly supported by Core-Facility at Okayama University(CFPOU IPM_011)
本研究はコアファシリティの支援を得て実施されました(CFPOU IPM_011)

クリップボードにコピーしました!

自己測定 学内 学外 担当部局から連絡精算
設置年 1994
CFPOU管理番号 IPM_011
機器種別
装置カテゴリ
適合分野 化学系 物理学系 地学系
管理部局 惑星物質研究所
サポート職員

惑星物質研究所
山下茂 (内線3738)、芳野極 (内線 3737)

拠点

地球惑星科学研究拠点

共同利用について

利用にあたっての留意事項

使用に当たっては,使用責任者の指示に従うこと。

http://www.misasa.okayama-u.ac.jp/jp/
 

問い合わせ

問い合わせる