PANalytical Axios Advanced

概要
波長分散型分光器を搭載し,固体試料に含まれる元素濃度を高精度で定量するための装置です.試料は,粉末化したのち,アルカリ融剤と混合,加熱の上ガラス化したものを用います.含有量0.1 wt%かそれ以上含まれる元素の定量精度と正確度はともに3%以下です.
装置の仕様・特色
測定時間:1試料あたり約1時間
測定元素:Na, Mg, Al, Si, P, K, Ca, Ti, Cr, Mn, Fe, Ni (それ以外元素も可能だが,校正が必要)
測定方法:ガラス化した試料を試料台にセット(最大40個)する.測定の自動化に対応しています.
謝辞掲載のお願い
本装置で得られたデータを外部に出版する際は、下記のとおり謝辞の記載をお願いいたします。
This work has been partly supported by Core-Facility at Okayama University(CFPOU IPM_015)

本研究はコアファシリティの支援を得て実施されました(CFPOU IPM_015)

本研究はコアファシリティの支援を得て実施されました(CFPOU IPM_015)
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自己測定
学内 学外
担当部局から連絡精算
設置年 | 2020 |
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CFPOU管理番号 | IPM_015 |
機器種別 | |
装置カテゴリ | |
適合分野 | 化学系 工学系 地学系 |
管理部局 | 惑星物質研究所 |
サポート職員 | 惑星物質研究所惑星物質分析化学部門 |
拠点 | 地球惑星科学研究拠点 |
共同利用について
利用にあたっての留意事項 |
当該研究所の共同利用・共同研究の体制のもとで使用を受け付けています. |
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