蛍光X線分析装置

PANalytical Axios Advanced

蛍光X線分析装置

概要

波長分散型分光器を搭載し,固体試料に含まれる元素濃度を高精度で定量するための装置です.試料は,粉末化したのち,アルカリ融剤と混合,加熱の上ガラス化したものを用います.含有量0.1 wt%かそれ以上含まれる元素の定量精度と正確度はともに3%以下です.

装置の仕様・特色

測定時間:1試料あたり約1時間
測定元素:Na, Mg, Al, Si, P, K, Ca, Ti, Cr, Mn, Fe, Ni (それ以外元素も可能だが,校正が必要)
測定方法:ガラス化した試料を試料台にセット(最大40個)する.測定の自動化に対応しています.

謝辞掲載のお願い

本装置で得られたデータを外部に出版する際は、下記のとおり謝辞の記載をお願いいたします。

This work has been partly supported by Core-Facility at Okayama University(CFPOU IPM_015)
本研究はコアファシリティの支援を得て実施されました(CFPOU IPM_015)

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自己測定 学内 学外 担当部局から連絡精算
設置年 2020
CFPOU管理番号 IPM_015
機器種別
装置カテゴリ
適合分野 化学系 工学系 地学系
管理部局 惑星物質研究所
サポート職員

惑星物質研究所惑星物質分析化学部門
北川 宙(0858-43-3799)

拠点

地球惑星科学研究拠点

共同利用について

利用にあたっての留意事項

当該研究所の共同利用・共同研究の体制のもとで使用を受け付けています.
原則,利用者本人が受入教官の指導のもとで試料の作成・測定を行います.

https://www.misasa.okayama-u.ac.jp/joint/
 

問い合わせ

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