日本電子 JSM-7600F
概要
電界放出型電子銃・セミインレンズタイプである為、高輝度・高分解能観察が可能。 ジェントルビームモードにより、極低エネルギー(数百eV)での表面観察が可能。 リトラクティブ反射電子検出器を用いた、二次電子・反射電子・凹凸像・組成像の同時観察・撮影。 TEMグリッドを固定する専用ホルダを用いることで、TEM観察に用いたものと同一のサンプリングロットのサンプルを容易に観察可能。
装置の仕様・特色
二次電子分解能:1.0 nm @ 15 kV, 1.4 nm @ 1 kV 観察可能倍率:x25 ~ x 1 M 加速電圧:0.1 kV ~ 30 kV
検出器:二次電子検出器・リトラクティブ反射電子検出器・EDS
謝辞掲載のお願い
本装置で得られたデータを外部に出版する際は、下記のとおり謝辞の記載をお願いいたします。
This work has been partly supported by Core-Facility at Okayama University(CFPOU Osaka-08)

本研究はコアファシリティの支援を得て実施されました(CFPOU Osaka-08)

本研究はコアファシリティの支援を得て実施されました(CFPOU Osaka-08)
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依頼測定 学内 学外
| 設置年 | ???? |
|---|---|
| CFPOU管理番号 | Osaka-08 |
| 機器種別 | |
| 装置カテゴリ | |
| 適合分野 | 化学系 |
| 管理部局 | |
| サポート職員 | |
| 拠点 | 大阪大学 |
依頼測定について
| 分析内容 | |
|---|---|
| 利用にあたっての留意事項 | 大阪大学の共同利用装置です。 依頼分析は内容により、お受け出来ない場合があります。 |
| 依頼測定料金 | 詳細は公開サイトURLをご参照ください。 |