カメカ社製 IMS-5F 外
概要
マイクロメータースケールの局所領域における微量元素濃度を高精度に測定する装置
装置の仕様・特色
マイクロメータースケールの局所領域における微量元素濃度を高精度に測定する
謝辞掲載のお願い
本装置で得られたデータを外部に出版する際は、下記のとおり謝辞の記載をお願いいたします。
This work has been partly supported by Core-Facility at Okayama University(CFPOU IPM_275)
本研究はコアファシリティの支援を得て実施されました(CFPOU IPM_275)
本研究はコアファシリティの支援を得て実施されました(CFPOU IPM_275)
クリップボードにコピーしました！
依頼測定 学内 学外
担当部局から連絡精算
| 設置年 | 1993 |
|---|---|
| CFPOU管理番号 | IPM_275 |
| 機器種別 | |
| 装置カテゴリ | |
| 適合分野 | 化学系 地学系 |
| 管理部局 | 惑星物質研究所 |
| サポート職員 | 惑星物質研究所 国広 卓也（内線 3822） |
| 拠点 | 10. 地球惑星科学研究拠点 |
依頼測定について
| 利用にあたっての留意事項 | CASTEM24Remoteの枠組みで依頼分析を受け付けています。詳細はお問い合わせください。 問合せ先メールアドレス |
|---|