カメカ社製 ダイナミックトランスファー 外
概要
二次イオン質量分析計に付帯し、その分析空間解像度を改善する装置
装置の仕様・特色
二次イオン質量分析計に付帯し、その分析空間解像度を改善する
謝辞掲載のお願い
本装置で得られたデータを外部に出版する際は、下記のとおり謝辞の記載をお願いいたします。
This work has been partly supported by Core-Facility at Okayama University(CFPOU IPM_277)
本研究はコアファシリティの支援を得て実施されました(CFPOU IPM_277)
本研究はコアファシリティの支援を得て実施されました(CFPOU IPM_277)
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依頼測定
担当部局から連絡精算
| 設置年 | 1994 |
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| CFPOU管理番号 | IPM_277 |
| 機器種別 | |
| 装置カテゴリ | |
| 適合分野 | 化学系 地学系 |
| 管理部局 | 惑星物質研究所 |
| サポート職員 | 惑星物質研究所 国広 卓也（内線 3822） |
| 拠点 | 10. 地球惑星科学研究拠点 |
依頼測定について
| 利用にあたっての留意事項 | CASTEM24Remoteの枠組みで依頼分析を受け付けています。詳細はお問い合わせください。 問合せ先メールアドレス |
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