パナリティカル社 Xpert-PRO MRDシステム (平成15年 原取)
概要
あらゆる薄膜材料の統合的な解析が可能な高性能X線回折装置。非破壊で薄膜と基盤の同時解析が可能で、様々な薄膜材料の構造情報を得ることができる。
物理、化学、工学、材料、無機、固体、表面、回折、X線
装置の仕様・特色
H29年3月 設置調整。
自己測定
学内
| 設置年 | 2014 |
|---|---|
| 装置カテゴリ | |
| 適合分野 | 物理学系 |
| 管理部局 | 自然生命科学研究支援センター |
| 使用責任者 | 自然科学研究科(工) |
| 拠点 | 自然生命科学研究支援センター 分析計測・極低温部門 分析計測分野 |
| 研究成果 | 岡山大学研究者プロファイル(Elsevier社Pure) |
共同利用について
| 利用にあたっての留意事項 |
使用希望者は、監守者の指示に従ってください。 http://dia.kikibun.okayama-u.ac.jp/equipments/view/543 |
|---|---|
| 費用負担 |
クリーンルーム全体で運営している。 |
| 自己測定利用法 |
監守者へ連絡し、測定方法をご相談ください。 |
| 管理責任者・監守者 |
クリーンルームワーキンググループ |
| 詳細情報 | http://dia.kikibun.okayama-u.ac.jp/equipments/view/543 |
| 利用方法や利用規程 | http://dia.kikibun.okayama-u.ac.jp/files/upload/files/dia/kitei_riyouyoukou.pdf |