MODEL HS-54SR
概要
本装置は、放射光構造解析装置から出射される光を用いて、固体試料の電子状態を調べる高分解能光電子分光装置と、表面構造を観察する光電子顕微鏡で構成されている。Key word:物理、化学、工学、材料、無機、有機、固体、結晶、表面、元素、顕微、分析、回折、電子、X線
装置の仕様・特色
HiSOR BL5の放射光を用い光電子分光測定を行う。
たとえば金属の仕事関数を測定できる。半導体でも、標準電極金属と半導体の光電子放出エネルギーを比べることで、仕事関数と価電子帯深さのエネルギーを求めることができる。
自己測定
依頼測定
学内 学外
CFPOU精算
| 設置年 | 1998 |
|---|---|
| CFPOU管理番号 | HiSOR_14 |
| 機器種別 | |
| 装置カテゴリ | |
| 適合分野 | 物理学、化学、工学系 |
| 管理部局 | 理学部 |
| サポート職員 | 理学部(界) |
| 拠点 | 16. 放射光構造解析装置運営委員会(全学) |
共同利用について
| 利用にあたっての留意事項 |
事前に放射線従事者登録が必要です。 装置の諸性能等については以下の「詳細情報」をご覧ください |
|---|---|
| 自己測定利用法 |
機器の利用を考えている方は、担当者に利用の方法や可否を確認してください。 担当： |
| その他 |
詳細情報 |
依頼測定について
| 申込方法 | 担当者に相談してください。 担当： |
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