Bruker 社製 高性能原子間力顕微鏡 マルチモード8型AFM

概要

試料表面を細い針で走査することにより、試料表面の凹凸や硬さ、電気的な情報を比較的簡単に測定することができます。

装置の仕様・特色

測定可能モード
コンタクトモードAFM、共振AFM(タッピングモード)、ピークフォースAFM(ダイレクトフォースコントロールAFM)、位相モード、摩擦力顕微鏡モード、フォースカーブ、フォースボリューム、電気力顕微鏡モード、表面電位顕微鏡モード、KPFMモード(機械特性と表面電位同時取得)

測定可能サイズ
　高性能スキャナ (10x10x2.5um)
　広範囲スキャナ (125x125x5um)
測定環境
　大気中、液中、加熱・冷却環境 (-35℃から250℃まで)