Bruker 社製 高性能原子間力顕微鏡 マルチモード8型AFM
概要
試料表面を細い針で走査することにより、試料表面の凹凸や硬さ、電気的な情報を比較的簡単に測定することができます。
装置の仕様・特色
測定可能モード
コンタクトモードAFM、共振AFM(タッピングモード)、ピークフォースAFM(ダイレクトフォースコントロールAFM)、位相モード、摩擦力顕微鏡モード、フォースカーブ、フォースボリューム、電気力顕微鏡モード、表面電位顕微鏡モード、KPFMモード(機械特性と表面電位同時取得)
測定可能サイズ
高性能スキャナ (10x10x2.5um)
広範囲スキャナ (125x125x5um)
測定環境
大気中、液中、加熱・冷却環境 (-35℃から250℃まで)
自己測定
学内 学外
CFPOU精算
| 設置年 | 2014 |
|---|---|
| CFPOU管理番号 | DIA_119 |
| 機器種別 | |
| 装置カテゴリ | |
| 適合分野 | 物理学系 |
| 管理部局 | 自然科学研究科(工) |
| サポート職員 | 自然科学研究科 |
| 拠点 | 自然生命科学研究支援センター 分析計測・極低温部門 分析計測分野 |
共同利用について
| 利用にあたっての留意事項 |
使用法について指導を受ける,予約制 |
|---|---|
| 自己測定料金 |
有 |
| 自己測定利用法 |
利用資格: 装置管理責任者によって教育を受け,使用の了解を得た者。 利用の申請: 管理責任者に申し出る。 |
| 機器サービス管理者 機器サービス副管理者 |
自然科学研究科(工) 内田 哲也(内線 8103) |
| その他 |
プローブは使用者各自で準備してください。 |
| 利用方法 | http://dia.kikibun.okayama-u.ac.jp/files/upload/files/dia/kitei_riyouyoukou.pdf |