日本電子株式会社 JPS-9030
概要
用途・特徴: 原子・分子の結合状態の分析,元素分析(定性,定量),表面分析
測定可能な試料の形態: 固体(小塊,粉末試料も可) (数十 mg 程度)
Keyword: XPS, 表面分析, 光電子, Arイオンエッチング, スパッタ
装置の仕様・特色
JEOL JPS-9030型
●依頼分析のみ受付中
問合せ先 : 中野知佑 c-nakano[at]okayama-u.ac.jp
* [at]を@に置き換えて送信ください
| 設置年 | 2015 |
|---|---|
| CFPOU管理番号 | SKY_01 |
| 機器種別 | |
| 装置カテゴリ | |
| 適合分野 | 材料系・物理系・化学系 |
| 管理部局 | 異分野基礎科学研究所 |
| サポート職員 | 異分野融合基礎 仁科 勇太 (内線 8718) |
| 拠点 | 新共用事業 |
依頼測定について
| 分析内容 | 依頼分析にのみ、対応しています。分析例は機器詳細に記載しています。 機器詳細 利用料金 |
|---|---|
| 利用にあたっての留意事項 | 依頼分析にのみ、対応しています。 |
| 申込方法 | 以下リンク先から、利用の流れをご確認ください。 利用の流れ |
| 依頼測定料金 | 詳細は以下の利用料金掲載ページをご確認ください。 |