日本電子(株)製 JXA-IHP200F 外
概要
岩石・鉱物試料の電子線による観察と、主成分元素の定量を実施する装置。また、軟X線スペクロメーターを有しており、鉄などの元素の価数の決定も可能である。
装置の仕様・特色
電界放出型EPMA
波長分散型(WDS)
軟X線スペクトメーター
自己測定
依頼測定
学内 学外
担当部局から連絡精算
| 設置年 | 2021 |
|---|---|
| CFPOU管理番号 | IPM_n02 |
| 機器種別 | |
| 装置カテゴリ | |
| 適合分野 | 物理学系 |
| 管理部局 | 惑星物質研究所 |
| サポート職員 | 惑星物質研究所 芳野極 |
| 拠点 | 10.地球惑星科学研究拠点 |
共同利用について
| 利用にあたっての留意事項 |
使用に当たっては担当者の指導の下で使用すること。 http://www.misasa.okayama-u.ac.jp/ |
|---|---|
| 自己測定料金 |
惑星研負担 |
| その他 |
問合せ先メールアドレス |
| 利用方法 | http://www.misasa.okayama-u.ac.jp/ |
依頼測定について
| 利用にあたっての留意事項 | 問合せ先メールアドレス |
|---|