蘭国・英国マルバーン・パナリティカル社製 Zeterseizer Nano-ZS
概要
粒子径、ゼータ電位、分子量測定装置。
装置の仕様・特色
測定範囲：0.3nm - 10µm
最小サンプル：12µL
希薄系～数10％の濃厚系サンプルに対応可能
自己測定
依頼測定
学内 学外
担当部局から連絡精算
| 設置年 | 2018 |
|---|---|
| CFPOU管理番号 | IPM_002 |
| 機器種別 | |
| 装置カテゴリ | |
| 適合分野 | 地学系 |
| 管理部局 | 惑星物質研究所 |
| サポート職員 | 惑星物質研究所 亀田 純 |
| 拠点 | 10. 地球惑星科学研究拠点 |
共同利用について
| 利用にあたっての留意事項 |
使用に当たっては担当者の指導の下で使用すること。 http://www.misasa.okayama-u.ac.jp/ |
|---|---|
| 自己測定料金 |
惑星研負担 |
| 利用方法 | http://www.misasa.okayama-u.ac.jp/ |