日本電子 JEOL JSM-6010LA
概要
電子線を試料に照射し、反射電子像、二次電子像、特性X線像(元素マッピング)を取得できる装置。
原理的には炭素よりも原子番号が大きい元素が検出できるが、定量的な分析が行えるのはNaよりも重い元素。
一般に試料の表面は、チャージアップを防ぐために炭素などで蒸着する必要があるが、炭素蒸着を嫌う試料については低真空モードで定性分析を行うことも可能である。
謝辞掲載のお願い
本装置で得られたデータを外部に出版する際は、下記のとおり謝辞の記載をお願いいたします。
This work has been partly supported by Core-Facility at Okayama University(CFPOU Osaka-56)
本研究はコアファシリティの支援を得て実施されました(CFPOU Osaka-56)
本研究はコアファシリティの支援を得て実施されました(CFPOU Osaka-56)
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自己測定
依頼測定 学内 学外
| 設置年 | ???? |
|---|---|
| CFPOU管理番号 | Osaka-56 |
| 機器種別 | |
| 装置カテゴリ | |
| 適合分野 | 化学系 |
| 管理部局 | |
| サポート職員 | |
| 拠点 | 大阪大学 |
共同利用について
| 利用にあたっての留意事項 |
大阪大学の共同利用装置です。 |
|---|---|
| 自己測定料金 |
詳細は公開サイトURLをご参照ください。 |
| 利用方法 | https://www.opf.osaka-u.ac.jp/instruments/392 |
依頼測定について
| 利用にあたっての留意事項 | 大阪大学の共同利用装置です。 |
|---|---|
| 依頼測定料金 | 詳細は公開サイトURLをご参照ください。 |