日本電子㈱ JSM-7001F 外

概要

鉱物の結晶方位や 結晶系をマイクロメートルレベルで解析する装置。

装置の仕様・特色

走査電子顕微鏡（現有設備番号329）に装備されており 、結晶粒方位マッピングの結晶方位解析および結晶相分布測定が可能である。