日本電子㈱ JSM-7001F (EDS 分析装置 付)
概要
鉱物の結晶方位や 結晶系をマイクロメートルレベルで解析する装置。
装置の仕様・特色
走査電子顕微鏡（現有設備番号329）に装備されており 、結晶粒方位マッピングの結晶方位解析および結晶相分布測定が可能である。
謝辞掲載のお願い
本装置で得られたデータを外部に出版する際は、下記のとおり謝辞の記載をお願いいたします。
This work has been partly supported by Core-Facility at Okayama University(CFPOU IPM_322)
本研究はコアファシリティの支援を得て実施されました(CFPOU IPM_322)
本研究はコアファシリティの支援を得て実施されました(CFPOU IPM_322)
クリップボードにコピーしました！
自己測定
依頼測定 学内 学外
担当部局から連絡精算
| 設置年 | 2009 |
|---|---|
| CFPOU管理番号 | IPM_322 |
| 機器種別 | |
| 装置カテゴリ | |
| 適合分野 | 物理系 |
| 管理部局 | 惑星物質研究所 |
| サポート職員 | 惑星物質研究所 小林 桂 |
| 拠点 | 10. 地球惑星科学研究拠点 |
共同利用について
| 利用にあたっての留意事項 |
使用に当たっては担当者の指導の下で使用すること。 https://www.misasa.okayama-u.ac.jp/public_html/jointuse/ |
|---|---|
| 自己測定料金 |
惑星物質研究所負担 |
| その他 |
問合せ先メールアドレス |
| 利用方法 | https://www.misasa.okayama-u.ac.jp/public_html/jointuse/ |
依頼測定について
| 利用にあたっての留意事項 | CASTEM24Remoteの枠組みで依頼分析を受け付けています。詳細はお問い合わせください。 問合せ先メールアドレス |
|---|