日本電子㈱製
概要
ナノスケールでの岩石・鉱物試料の透過電子線による観察・構造解析と、元素分析を行う装置。
装置の仕様・特色
フィールドエミッション型電子銃、加速電圧200kVの透過電子顕微鏡。STEM検出器を備え、STEM像の観察も可能。また後端にEELS(電子エネルギー損失分光) 検出器を備え、電子の非弾性散乱によるエネルギー損失から元素分布や状態分析が可能である。なおEDS検出器が故障(修理不可)したため、試料からの特性X線を用いた元素分析は現在実施できない。
自己測定
依頼測定
学内 学外
担当部局から連絡精算
設置年 | 2009 |
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CFPOU管理番号 | IPM_327 |
機器種別 | |
装置カテゴリ | |
適合分野 | 化学系 |
管理部局 | 惑星物質研究所 |
サポート職員 | 惑星物質研究所 小林 桂 |
拠点 | 10. 地球惑星科学研究拠点 |
共同利用について
利用にあたっての留意事項 |
使用に当たっては担当者の指導の下で使用すること。 http://www.misasa.okayama-u.ac.jp/jp/ |
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自己測定料金 |
惑星物質研究所負担 |
その他 |
問合せ先メールアドレス |
利用方法 | http://www.misasa.okayama-u.ac.jp/jp/ |
依頼測定について
利用にあたっての留意事項 | CASTEM24Remoteの枠組みで依頼分析を受け付けています。詳細はお問い合わせください。 問合せ先メールアドレス |
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