透過電子顕微鏡

日本電子㈱製

透過電子顕微鏡

概要

ナノスケールでの岩石・鉱物試料の透過電子線による観察・構造解析と、元素分析を行う装置。

装置の仕様・特色

フィールドエミッション型電子銃、加速電圧200kVの透過電子顕微鏡。STEM検出器を備え、STEM像の観察も可能。また後端にEELS(電子エネルギー損失分光) 検出器を備え、電子の非弾性散乱によるエネルギー損失から元素分布や状態分析が可能である。なおEDS検出器が故障(修理不可)したため、試料からの特性X線を用いた元素分析は現在実施できない。

自己測定 依頼測定 学内 学外 担当部局から連絡精算
設置年 2009
装置カテゴリ
適合分野 化学系
管理部局 惑星物質研究所
使用責任者

惑星物質研究所 小林 桂
(内線 3740)

拠点

10. 地球惑星科学研究拠点

共同利用について

利用にあたっての留意事項

使用に当たっては担当者の指導の下で使用すること。

http://www.misasa.okayama-u.ac.jp/jp/
費用負担

惑星物質研究所負担

その他

問合せ先メールアドレス
eee0502@adm.okayama-u.ac.jp

詳細情報 http://www.misasa.okayama-u.ac.jp/jp/
利用方法や利用規程 http://www.misasa.okayama-u.ac.jp/jp/
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依頼測定について

利用にあたっての留意事項

CASTEM24Remoteの枠組みで依頼分析を受け付けています。詳細はお問い合わせください。

問合せ先メールアドレス
eee0502@adm.okayama-u.ac.jp

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問い合わせ

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