走査電子顕微鏡

日本電子㈱製

走査電子顕微鏡

概要

岩石・鉱物試料の電子線による観察と、主成分元素の定量を実施する装置。

装置の仕様・特色

フィールドエミッション型電子銃を装備し、高分解能で安定した観察が可能である。また低真空モードを利用することができ、試料コートを用いず試料のチャージアップを抑制した像を得ることができる。検出器としてEDS、EBSD(現有設備番号322)を備えており、主要元素濃度分析、結晶方位解析が可能である。

自己測定 依頼測定 学内 学外 担当部局から連絡精算
設置年 2009
装置カテゴリ
適合分野 化学系
管理部局 惑星物質研究所
使用責任者

惑星物質研究所 小林 桂
(内線 3740)

拠点

10. 地球惑星科学研究拠点

共同利用について

利用にあたっての留意事項

使用に当たっては担当者の指導の下で使用すること。

http://www.misasa.okayama-u.ac.jp/jp/
費用負担

惑星物質研究所負担

その他

問合せ先メールアドレス
eee0502@adm.okayama-u.ac.jp

詳細情報 http://www.misasa.okayama-u.ac.jp/jp/
利用方法や利用規程 http://www.misasa.okayama-u.ac.jp/jp/
  予約する

依頼測定について

利用にあたっての留意事項

CASTEM24Remoteの枠組みで依頼分析を受け付けています。詳細はお問い合わせください。

問合せ先メールアドレス
eee0502@adm.okayama-u.ac.jp

依頼する

問い合わせ

問い合わせる