JEM-2100F EDS, EELS(使用不能)

概要

原子レベルでの観察・分析,高温・低温観察　等

装置の仕様・特色

JEOL JEM-2100F HRP仕様 CEOS社製Csコレクタ付
加速電圧：80-200kV
分解能：0.1nm以下
観察モード：TEM，STEM，SEM
2軸傾斜（±35°，±30°）試料ホルダー
分析用2軸傾斜（±35°，±30°）試料ホルダー
加熱2軸傾斜（±25°，±18°，～1000℃）試料ホルダー
冷却2軸傾斜（±15°，±15°，-160℃）試料ホルダー
高傾斜（±80°）試料ホルダー
JEOL JED-2300T（EDS）エネルギー分解能：133eV
Gatan ES500W 低倍像や回折像用CCDカメラ（1.3k×1k）
Gatan USC1000 高分解能用CCDカメラ（2k×2k）
Gatan Tridiem（エネルギーフィルタ）
JIC-400　イオンクリーナ

謝辞掲載のお願い

本装置で得られたデータを外部に出版する際は、下記のとおり謝辞の記載をお願いいたします。

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