ESDシステム、EBSDシステム付き電界放出形走査電子顕微鏡

日本電子㈱製 JSM-7001F 外

ESDシステム、EBSDシステム付き電界放出形走査電子顕微鏡

概要

岩石・鉱物試料の電子線による観察と、主成分元素の定量を実施する装置。

装置の仕様・特色

電界放出型SEM
電子線後方散乱回折(EBSD)、シリコンドリフト型検出機(SDD)EDS付き

自己測定 依頼測定 学内 学外 担当部局から連絡精算
設置年 2008
CFPOU管理番号 IPM_454
機器種別
装置カテゴリ
適合分野 物理学系
管理部局 惑星物質研究所
サポート職員

惑星物質研究所 芳野極
(内線 3737)

拠点

10. 地球惑星科学研究拠点

共同利用について

利用にあたっての留意事項

使用に当たっては担当者の指導の下で使用すること。

http://www.misasa.okayama-u.ac.jp/jp/
自己測定料金

惑星物質研究所負担

その他

問合せ先メールアドレス
eee0502@adm.okayama-u.ac.jp

利用方法 http://www.misasa.okayama-u.ac.jp/jp/
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依頼測定について

利用にあたっての留意事項

問合せ先メールアドレス
eee0502@adm.okayama-u.ac.jp

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