電界放出型電子プローブマイクロアナライザー

日本電子(株)製 JXA-8530F

電界放出型電子プローブマイクロアナライザー

概要

主に岩石・鉱物試料の化学組成を2次元空間において定量的に測定する。

装置の仕様・特色

フィールドエミッション型電子銃を備えた電子プローブマイクロアナライザー。加速電圧は最大30kV。計5チャンネルの波長分散型検出器を備え、同時に最大5元素の濃度分析が可能である。分析可能な元素はB~Uの範囲であり、検出限界は概ね~100ppmである。

自己測定 依頼測定 学内 学外 担当部局から連絡精算
設置年 2014
CFPOU管理番号 IPM_523
機器種別
装置カテゴリ
適合分野 化学系
管理部局 惑星物質研究所
サポート職員

惑星物質研究所 小林 桂
(内線 3740)

拠点

10. 地球惑星科学研究拠点

共同利用について

利用にあたっての留意事項

スタッフあるいは技術補佐員が指導する

http://www.misasa.okayama-u.ac.jp/jp/
自己測定料金

惑星物質研究所負担

その他

問合せ先メールアドレス
eee0502@adm.okayama-u.ac.jp

利用方法 http://www.misasa.okayama-u.ac.jp/jp/
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依頼測定について

利用にあたっての留意事項

CASTEM24Remoteの枠組みで依頼分析を受け付けています。詳細はお問い合わせください。

問合せ先メールアドレス
eee0502@adm.okayama-u.ac.jp

依頼する

問い合わせ

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