日本分光(株)製 FT/IR-6200(NIR)
概要
赤外スペクトルを測定する。赤外顕微鏡IRT-7000N(NIR)と組み合わせて固体試料の微少領域の透過/反射測定が可能。拡散反射ユニットを取り付けて粉体試料の拡散反射スペクトル測定も可能。
装置の仕様・特色
測定波数範囲: 15000~400cm-1
ビームスプリッター: KBr/Ge(中赤外)、CaF2/Si(近赤外)
光源: セラミック(中赤外)、ハロゲン(近赤外)
検出器: TGS
自己測定
依頼測定
学内 学外
担当部局から連絡精算
| 設置年 | 2008 |
|---|---|
| 装置カテゴリ | |
| 適合分野 | 物理学系 |
| 管理部局 | 惑星物質研究所 |
| 使用責任者 | 惑星物質研究所 山下 茂 |
| 拠点 | 10. 地球惑星科学研究拠点 |
共同利用について
| 利用にあたっての留意事項 |
使用に当たっては,使用責任者の指示に従うこと http://www.misasa.okayama-u.ac.jp/jp/ |
|---|---|
| 費用負担 |
惑星物質研究所負担 |
| 管理責任者・監守者 |
【使用責任者】 |
| その他 |
問合せ先メールアドレス |
| 詳細情報 | http://www.misasa.okayama-u.ac.jp/jp/ |
| 利用方法や利用規程 | http://www.misasa.okayama-u.ac.jp/jp/ |
依頼測定について
| 利用にあたっての留意事項 | 問合せ先メールアドレス |
|---|