汎用放射光光電子顕微鏡

GIM2-L

汎用放射光光電子顕微鏡

概要

★HiSOR_14, 15-2, 15-3の関連機器★

本装置は、加速した電子が出す放射光から必要なエネルギーの光だけを取り出すものであり、高分解能構造解析システムと一体のものである。Key word:物理、化学、工学、材料、無機、有機、固体、結晶、表面、元素、顕微、分析、回折、電子、X線

装置の仕様・特色

HiSOR BL5の放射光X線を用い、特定元素の特性吸収端において放出される光電子をそのまま電子レンズに導き、狙った特定元素のみの分布を示す電子顕微鏡像を10nmの分解能で観測することができる。
複雜な化合物内において、元素分布を可視化できる。

自己測定 依頼測定 学内 学外 CFPOU精算
設置年 1998
装置カテゴリ
適合分野 物理学、化学、工学系
管理部局 理学部
使用責任者

理学部(界)
横谷 尚睦
(内線 7897)

拠点

16. 放射光構造解析装置運営委員会(全学)

共同利用について

利用にあたっての留意事項

事前に放射線従事者登録が必要です。

装置の諸性能等については以下の「詳細情報」をご覧ください

自己測定利用法

機器の利用を考えている方は、担当者に利用の方法や可否を確認してください。

担当:
横谷尚睦(yokoya[at]cc.okayama-u.ac.jp)
脇田高徳(wakita[at]cc.okayama-u.ac.jp)
([at]をアットマークに置き換えて送信してください。)

その他

詳細情報
https://www.science.okayama-u.ac.jp/~surface/data/general_peem.pdf

 

依頼測定について

申込方法

担当者に相談してください。

担当:
横谷尚睦(yokoya[at]cc.okayama-u.ac.jp)
脇田高徳(wakita[at]cc.okayama-u.ac.jp)
([at]をアットマークに置き換えて送信してください。)

問い合わせ

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