Olympus・FV3000型
概要
「微細構造リモート観察システム1. 走査電子顕微鏡(SEM)」の前処理用光学顕微鏡です。回路, 半導体部品の分析や細胞等の生体組織など, 材料工学～生物工学まで幅広い分野において利用可能です。
【key words】共焦点, レーザ, 材料, 半導体, 回路, 生物, 細胞, 組織, 蛍光
装置の仕様・特色
レーザー: 405 nm(50mW), 488 nm(20mW), 561 nm(20mW), 640 nm(40mW)
超解像イメージング(FV-OSR)対応:コローカリゼーション解析に最適で、分解能 約120 nmを実現可能
デコンボリューション:アルゴリズム画像処理によりノイズ除去を行い,よりシャープな画像が得られる
波長分解能 2nm の分光器, ペルチェ冷却機能付ガリウム砒素リン (GaAsP) の高感度検出器2CHを搭載しており, 光刺激による FRIP, FRAP 解析や, 3次元構築・観察が可能 (3Dアニメーション, タイムラプスイメージング)。
| 設置年 | 2022 |
|---|---|
| CFPOU管理番号 | DIA_717 |
| 機器種別 | |
| 装置カテゴリ | |
| 適合分野 | 生物学系 物理系 工学系 医学系 |
| 管理部局 | |
| サポート職員 | 自然科学学域 |
| 拠点 | 自然生命科学研究支援センター 分析計測・極低温部門 分析計測分野 |
| 研究成果 | 岡山大学研究者プロファイル(Elsevier社Pure) |
共同利用について
| 利用にあたっての留意事項 |
使用前登録と使用前講習会の受講が必要です。使用責任者の指示に従って下さい。 |
|---|---|
| 自己測定料金 |
(自己測定のみ) |
| 自己測定利用法 |
管理責任者または監守者に申し出てください。操作指導を受けた方に、利用資格を承認します。 |
| 機器サービス管理者 機器サービス副管理者 |
機器管理責任者: |
| 利用方法 | https://dia.kikibun.okayama-u.ac.jp/files/upload/files/dia/kitei_riyouyoukou.pdf |