機器・サービス

高圧変形ガイドブロック
自己測定 依頼測定 学内 学外 担当部局から連絡精算
規格:(株)シーティーファクトリー製 CTF-GB/D111-OU17

管理番号:IPM_568 / 設置年:2017

拠点:10.地球惑星科学研究拠点

高分解能マルチコレクターICP質量分析計
自己測定 依頼測定 学内 学外 担当部局から連絡精算
規格:独国サーモフィッシャーサイエンティフィック社製 NEPTUNE Plus外

管理番号:IPM_569 / 設置年:2017

拠点:10.地球惑星科学研究拠点

表面電離型質量分析計
自己測定 依頼測定 学内 学外 担当部局から連絡精算
規格:独国サーモフィッシャーサイエンティフィック社製 TRITON Plus Bundle 2 SEM/RPQ外

管理番号:IPM_570 / 設置年:2017

拠点:10.地球惑星科学研究拠点

高分解能核磁気共鳴装置
自己測定 依頼測定 学内 学外 担当部局から連絡精算
規格:独国ブルカー・バイオスピン社製 AVANCE NEO 400型

管理番号:IPM_571 / 設置年:2017

拠点:10.地球惑星科学研究拠点

表面電離型質量分析計
自己測定 依頼測定 学内 学外 担当部局から連絡精算
規格:独国サーモフィッシャーサイエンティフィック社製 TRITON Plus質量分析計

管理番号:IPM_572 / 設置年:2018

拠点:10.地球惑星科学研究拠点

高分解能ICP質量分析計
自己測定 依頼測定 学内 学外 担当部局から連絡精算
規格:独国サーモフィッシャーサイエンティフィック社製iCAP TQ

管理番号:IPM_573 / 設置年:2018

拠点:10.地球惑星科学研究拠点

二次イオン質量分析計
依頼測定 学内 学外 担当部局から連絡精算
規格:フランス共和国 カメカ社製 IMS 1280-HR

管理番号:IPM_574 / 設置年:2018

拠点:10.地球惑星科学研究拠点

セルソーター
自己測定 依頼測定 学内 学外 担当部局から連絡精算
規格:米国ベクトン・ディッキンソン社製 4レーザー10カラータイプBDFACSAriaⅢ

管理番号:CRL_602 / 設置年:2018

拠点:

GCMS部(有機物質量分析計システム)
自己測定 依頼測定 学内 学外 担当部局から連絡精算
規格:米国サーモフィッシャサイエンティフィック社製ISQ LT,EI,真空ロック,300

管理番号:IPM_634 / 設置年:2018

拠点:10.地球惑星科学研究拠点

全真空赤外顕微鏡システム
自己測定 依頼測定 学内 学外 担当部局から連絡精算
規格:日本分光(株)製 IRT-5200IPMY

管理番号:IPM_637 / 設置年:2017

拠点:10.地球惑星科学研究拠点

600MHz NMR装置(JEOL社)
自己測定 依頼測定 学内 学外 CFPOU精算
規格:JEOL社 JNMECZ600R

管理番号:DIA_639 / 設置年:2019

拠点:分析計測・極低温部門分析計測分野

X線光電子分光装置
依頼測定 学内 学外 要利用資格 CFPOU精算
規格:日本電子株式会社JPS-9030

管理番号:SKY_01 / 設置年:2015

拠点:新共用事業