CRL_246_タンパク解析用LC-MSシステム 依頼測定 学内 学外 担当部局から連絡精算 規格:米国アジレント・テクノロジー ナノフロープロテオミクスソリューションシステム AGILENT XCTPLUS 管理番号:CRL_246 / 設置年:2005 拠点:医学部共同実験室
一軸加圧式川井型超高圧発生装置 自己測定 依頼測定 学内 学外 担当部局から連絡精算 規格:住友重機械工業㈱製 USSA-5000外 管理番号:IPM_268 / 設置年:1978 拠点:10.地球惑星科学研究拠点
一軸加圧式川井型超高圧発生装置 自己測定 依頼測定 学内 学外 担当部局から連絡精算 規格:住友重機械工業㈱製USSA-1000 管理番号:IPM_269 / 設置年:1986 拠点:10.地球惑星科学研究拠点
希ガス測定用質量分析装置 自己測定 依頼測定 学内 学外 担当部局から連絡精算 規格:VGアイソトープス Micromass VG5400外 管理番号:IPM_272 / 設置年:1987 拠点:10.地球惑星科学研究拠点
超高圧高温マグマ物性測定装置 自己測定 依頼測定 学内 学外 担当部局から連絡精算 規格:住友重機械工業㈱製 UHP2000-20(AMAGAEL) 管理番号:IPM_282 / 設置年:1995 拠点:10.地球惑星科学研究拠点
表面電離型質量分析装置 自己測定 依頼測定 学内 学外 担当部局から連絡精算 規格:サーモエレクトロン社製 TRITON外 管理番号:IPM_293 / 設置年:2004 拠点:10.地球惑星科学研究拠点
低真空電界放出型走査電子顕微鏡装置 自己測定 依頼測定 学内 学外 担当部局から連絡精算 規格:日本電子㈱ JSM-7001F (EDS 分析装置 付) 管理番号:IPM_322 / 設置年:2009 拠点:10.地球惑星科学研究拠点
安定同位体比測定用質量分析装置 自己測定 依頼測定 学内 学外 担当部局から連絡精算 規格:独国サーモフィッシャーサイエンティフック社製MAT253 管理番号:IPM_325 / 設置年:2009 拠点:10.地球惑星科学研究拠点
希ガス測定用質量分析装置 自己測定 依頼測定 学内 学外 担当部局から連絡精算 規格:独国サーモフィッシャーサイエンティフック社製Helix 管理番号:IPM_326 / 設置年:2009 拠点:10.地球惑星科学研究拠点
透過電子顕微鏡装置 自己測定 依頼測定 学内 学外 担当部局から連絡精算 規格:日本電子㈱製JEM-7001F (EDS・EELS 付) 管理番号:IPM_327 / 設置年:2009 拠点:10.地球惑星科学研究拠点