CRL_246_タンパク解析用LC-MSシステム 依頼測定 学内 学外 担当部局から連絡精算 規格：米国アジレント・テクノロジー ナノフロープロテオミクスソリューションシステム AGILENT XCTPLUS 管理番号：CRL_246 ／ 設置年：2005 拠点：医学部共同実験室
一軸加圧式川井型超高圧発生装置 自己測定 依頼測定 学内 学外 担当部局から連絡精算 規格：住友重機械工業㈱製 USSA-5000外 管理番号：IPM_268 ／ 設置年：1978 拠点：10.地球惑星科学研究拠点
一軸加圧式川井型超高圧発生装置 自己測定 依頼測定 学内 学外 担当部局から連絡精算 規格：住友重機械工業㈱製USSA-1000 管理番号：IPM_269 ／ 設置年：1986 拠点：10.地球惑星科学研究拠点
希ガス測定用質量分析装置 自己測定 依頼測定 学内 学外 担当部局から連絡精算 規格：VGアイソトープス Micromass VG5400外 管理番号：IPM_272 ／ 設置年：1987 拠点：10.地球惑星科学研究拠点
超高圧高温マグマ物性測定装置 自己測定 依頼測定 学内 学外 担当部局から連絡精算 規格：住友重機械工業㈱製 UHP2000-20(AMAGAEL) 管理番号：IPM_282 ／ 設置年：1995 拠点：10.地球惑星科学研究拠点
表面電離型質量分析装置 自己測定 依頼測定 学内 学外 担当部局から連絡精算 規格：サーモエレクトロン社製 TRITON外 管理番号：IPM_293 ／ 設置年：2004 拠点：10.地球惑星科学研究拠点
低真空電界放出型走査電子顕微鏡装置 自己測定 依頼測定 学内 学外 担当部局から連絡精算 規格：日本電子㈱ JSM-7001F (EDS 分析装置 付) 管理番号：IPM_322 ／ 設置年：2009 拠点：10.地球惑星科学研究拠点
安定同位体比測定用質量分析装置 自己測定 依頼測定 学内 学外 担当部局から連絡精算 規格：独国サーモフィッシャーサイエンティフック社製MAT253 管理番号：IPM_325 ／ 設置年：2009 拠点：10.地球惑星科学研究拠点
希ガス測定用質量分析装置 自己測定 依頼測定 学内 学外 担当部局から連絡精算 規格：独国サーモフィッシャーサイエンティフック社製Helix 管理番号：IPM_326 ／ 設置年：2009 拠点：10.地球惑星科学研究拠点
透過電子顕微鏡装置 自己測定 依頼測定 学内 学外 担当部局から連絡精算 規格：日本電子㈱製JEM-7001F (EDS・EELS 付) 管理番号：IPM_327 ／ 設置年：2009 拠点：10.地球惑星科学研究拠点
