機器・サービス

CRL_186_透過型電子顕微鏡
自己測定 依頼測定 学内 学外 担当部局から連絡精算
規格:日立H-7100S

管理番号:CRL_186 / 設置年:1991

拠点:医学部共同実験室

CRL_246_タンパク解析用LC-MSシステム
依頼測定 学内 学外 担当部局から連絡精算
規格:米国アジレント・テクノロジー ナノフロープロテオミクスソリューションシステム AGILENT XCTPLUS

管理番号:CRL_246 / 設置年:2005

拠点:医学部共同実験室

希ガス測定用質量分析装置
自己測定 依頼測定 学内 学外 担当部局から連絡精算
規格:VGアイソトープス Micromass VG5400外

管理番号:IPM_272 / 設置年:1987

拠点:10.地球惑星科学研究拠点

二次イオン質量分析装置
依頼測定 学内 学外 担当部局から連絡精算
規格:カメカ社製IMS-5f

管理番号:IPM_275 / 設置年:1993

拠点:10.地球惑星科学研究拠点

内熱式ガス圧装置
自己測定 依頼測定 学内 学外 担当部局から連絡精算
規格:㈱神戸製鋼所製 DR.HIP

管理番号:IPM_276 / 設置年:1994

拠点:10.地球惑星科学研究拠点

超高圧高温マグマ物性測定装置
自己測定 依頼測定 学内 学外 担当部局から連絡精算
規格:住友重機械工業㈱製 UHP2000-20(AMAGAEL)

管理番号:IPM_282 / 設置年:1995

拠点:10.地球惑星科学研究拠点

表面電離型質量分析装置
自己測定 依頼測定 学内 学外 担当部局から連絡精算
規格:サーモエレクトロン社製 TRITON外

管理番号:IPM_293 / 設置年:2004

拠点:10.地球惑星科学研究拠点

粉末X線回折装置
自己測定 依頼測定 学内 学外 担当部局から連絡精算
規格:㈱リガク製

管理番号:IPM_323 / 設置年:2009

拠点:10.地球惑星科学研究拠点

微小部X線回折装置
自己測定 依頼測定 学内 学外 担当部局から連絡精算
規格:㈱リガク製

管理番号:IPM_324 / 設置年:2009

拠点:10.地球惑星科学研究拠点

安定同位体比測定用質量分析装置
自己測定 依頼測定 学内 学外 担当部局から連絡精算
規格:独国サーモフィッシャーサイエンティフック社製MAT253

管理番号:IPM_325 / 設置年:2009

拠点:10.地球惑星科学研究拠点

希ガス測定用質量分析装置
自己測定 依頼測定 学内 学外 担当部局から連絡精算
規格:独国サーモフィッシャーサイエンティフック社製Helix

管理番号:IPM_326 / 設置年:2009

拠点:10.地球惑星科学研究拠点

透過電子顕微鏡装置
自己測定 依頼測定 学内 学外 担当部局から連絡精算
規格:日本電子㈱製JEM-7001F (EDS・EELS 付)

管理番号:IPM_327 / 設置年:2009

拠点:10.地球惑星科学研究拠点

複合集束ビーム試料加工装置
自己測定 依頼測定 学内 学外 担当部局から連絡精算
規格:日本電子㈱製JIB-4500

管理番号:IPM_328 / 設置年:2009

拠点:10.地球惑星科学研究拠点