機器・サービス

ICP発光分光分析装置
自己測定 学内 担当部局から連絡精算
規格:米国サーモフィッシャーサイエンティフィック社製ICAP6300 DUO VIEW

管理番号:EMC_4 / 設置年:2008

拠点:環境管理センター

蛍光X線分析装置
自己測定 学内 担当部局から連絡精算
規格:(株)島津製作所製EDX-8000

管理番号:EMC_10 / 設置年:2014

拠点:環境管理センター

グローブボックス
自己測定 学内 学外 CFPOU精算
規格:株式会社UNICOUN-1000L型

管理番号:SKY_06A / 設置年:2013

拠点:新共用事業

全自動電気泳動システム
自己測定 学内 学外 要利用資格 CFPOU精算
規格:Agilent社: 4150 TapeStation System

管理番号:DGP_654 / 設置年:2019

拠点:ゲノム・プロテオーム解析部門

顕微鏡画像解析装置
自己測定 学内 CFPOU精算
規格:Oxford Instruments, Imaris 9.3

管理番号:DIA_700 / 設置年:2018

拠点:分析計測・極低温部門分析計測分野

超音波ホモジナイザー
自己測定 学内
規格:SONIC VIBRACELL ・VCX-130

管理番号:DIA_706 / 設置年:2009

拠点:分析計測・極低温部門分析計測分野

多用途小型遠心機
自己測定 学内
規格:日立・CF16RX

管理番号:DIA_707 / 設置年:2005

拠点:分析計測・極低温部門分析計測分野

エバポレーター
自己測定 学内
規格:東京理化・N4N

管理番号:DIA_708 / 設置年:1996

拠点:分析計測・極低温部門分析計測分野

分光光度計
自己測定 学内
規格:日立・ダブルビーム U-2000

管理番号:DIA_709 / 設置年:1996

拠点:分析計測・極低温部門分析計測分野

分光光度計(簡易型)
自己測定 学内
規格:エッペンドルフ・Biophotometer plus

管理番号:DIA_710 / 設置年:2009

拠点:分析計測・極低温部門分析計測分野

恒温乾燥機
自己測定 学内
規格:サンヨー・MCV-B131F B30付

管理番号:DIA_712 / 設置年:2000

拠点:分析計測・極低温部門分析計測分野

凝縮装置付きSQUID磁化測定装置
学内 CFPOU精算
規格:米国カンタム・デザイン社MPMS-SQUIDDC 磁気特性測定システム

管理番号:DIA_718 / 設置年:2000

拠点:分析計測・極低温部門分析計測分野

超遠心機
自己測定 部局内限定 担当部局から連絡精算
規格:ベックマンコールターOptima XE-90

管理番号:IPSR_01 / 設置年:2022

拠点:

冷凍切片作成装置
自己測定 学内 学外 担当部局から連絡精算
規格:Thermo Fisher Scientific社製クリオスタット HM525

管理番号:IPSR_02 / 設置年:2012

拠点: