卓上型X線回折装置_XRD 自己測定 学内 学外 CFPOU精算 規格：Malvern Panalytical 社Aeris 管理番号：RIIS_sky_21 ／ 設置年：2020 拠点：異分野基礎科学研究所
熱重量分析-質量分析システム_TG-MS 依頼測定 学内 学外 CFPOU精算 規格：株式会社リガク Thermo plus EVO2 管理番号：RIIS_sky_05A ／ 設置年：2015 拠点：異分野基礎科学研究所
DGP_653_リアルタイムPCRシステム 自己測定 学内 学外 要利用資格 CFPOU精算 規格：サーモフィッシャーサイエンテフィック社: QuantStudio3 管理番号：DGP_653 ／ 設置年：2019 拠点：ゲノム・プロテオーム解析部門
タンパク質結晶化自動観察装置 自己測定 学内 CFPOU精算 規格：FORMULATRIX社・ROCK IMAGER54システム 管理番号：DIA_679 ／ 設置年：2021 拠点：分析計測・極低温部門分析計測分野
微細構造リモート観察システム1_走査電子顕微鏡（SEM） 自己測定 依頼測定 学内 学外 要利用資格 CFPOU精算 規格：株式会社日立ハイテク SU9000型 管理番号：DIA_716 ／ 設置年：2022 拠点：分析計測・極低温部門分析計測分野
微細構造リモート観察システム2-1_光学顕微鏡 自己測定 学内 学外 CFPOU精算 規格：Olympus・FV3000型 管理番号：DIA_717 ／ 設置年：2022 拠点：分析計測・極低温部門分析計測分野
ガスクロマトグラフ質量分析計_GC-MS 自己測定 学内 学外 CFPOU精算 規格：株式会社島津製作所 GCMS-QP2010plus 管理番号：RIIS_sky_07 ／ 設置年：2011 拠点：異分野基礎科学研究所
先端機素表面・性能評価システム 1-1.走査型電子顕微鏡システム 自己測定 学内 CFPOU精算 規格：JEOL JSM-IT800(SHL)/ Oxford ULTIM MAX, ULTIMEXTREME,SymmetryS2 管理番号：DIA_719 ／ 設置年：2022 拠点：分析計測・極低温部門分析計測分野
先端機素表面・性能評価システム 1-2.三次元測定レーザー顕微鏡システム 自己測定 学内 CFPOU精算 規格：エビデントOLS5100-EAT 管理番号：DIA_720 ／ 設置年：2022 拠点：分析計測・極低温部門分析計測分野
ナノポアシーケンサー 自己測定 学内 学外 要利用資格 CFPOU精算 規格：英国オックスフォード ナノポアテクノロジーズ社製 MinION Mk-1C 管理番号：DGP_702 ／ 設置年：2021 拠点：ゲノム・プロテオーム解析部門
