400MHz NMR装置（アジレント社） 自己測定 依頼測定 学内 学外 CFPOU精算 規格：Varian 400-MR ASW 管理番号：DIA_361 ／ 設置年：2010 拠点：分析計測・極低温部門分析計測分野
600MHz NMR装置（アジレント社） 自己測定 依頼測定 学内 学外 CFPOU精算 規格：Varian NMR System PS600 管理番号：DIA_362 ／ 設置年：2010 拠点：分析計測・極低温部門分析計測分野
HPLC-Chip/QTOF質量分析システム 自己測定 依頼測定 学内 学外 要利用資格 CFPOU精算 規格：アジレントテクノロジー社 G6520型+G4240型 管理番号：DIA_392 ／ 設置年：2009 拠点：分析計測・極低温部門分析計測分野
水平型粉末X線回折装置 自己測定 依頼測定 学内 学外 CFPOU精算 規格：試料水平型回転対陰極式X線回折装置㈱リガク製(RINT-TTRⅢ-MTA) X線発生装置(18K 管理番号：DIA_471 ／ 設置年：2009 拠点：分析計測・極低温部門分析計測分野
微小単結晶構造回折装置 自己測定 依頼測定 学内 学外 要利用資格 CFPOU精算 規格：極微小結晶対応IP単結晶X線回折装置㈱リガク製RAPIDⅡWITH VARIMAX-CU システム,微小点X線発生装置(RA-MIC 管理番号：DIA_472 ／ 設置年：2009 拠点：分析計測・極低温部門分析計測分野
薄膜試料X線回折装置 自己測定 依頼測定 学内 学外 CFPOU精算 規格：薄膜評価用試料水平型X線回折装置㈱リガク製SMARTLAB-PRO,高輝度X線発生装置(9KW、CUロータターゲット),試料水 管理番号：DIA_473 ／ 設置年：2009 拠点：分析計測・極低温部門分析計測分野
デジタルマイクロスコープ 自己測定 学内 学外 CFPOU精算 規格：キーエンス社・VHX-2000SP(1554)型 リニアスライサー:堂阪イーエム(株)製 管理番号：DIA_517 ／ 設置年：2013 拠点：分析計測・極低温部門分析計測分野
連続フロー型同位体比質量分析計 自己測定 学内 学外 CFPOU精算 規格：Thermo Fisher Scientific・Delta V advantage (F13000000003495?000) 管理番号：DIA_540 ／ 設置年：2013 拠点：分析計測・極低温部門分析計測分野
オートサンプラ付ガスクロマトグラフ質量分析計 自己測定 部局内限定 規格：オートサンプラ付GCMS・島津・GCMS-QP2010 管理番号：669 ／ 設置年：2018 拠点：分析計測・極低温部門分析計測分野
イオントラップ型質量分析装置/LCシステム(高性能気液相導入質量分析装置) 自己測定 依頼測定 学内 CFPOU精算 規格：Bruker Daltonics, HCT 管理番号：DIA_350-2 ／ 設置年：2009 拠点：分析計測・極低温部門分析計測分野
飛行時間型質量分析装置(高性能気液相導入質量分析装置) 自己測定 依頼測定 学内 学外 CFPOU精算 規格：Bruker Daltonics, micrOTOF II 管理番号：DIA_350-3 ／ 設置年：2009 拠点：分析計測・極低温部門分析計測分野
高圧変形ガイドブロック 自己測定 依頼測定 学内 学外 担当部局から連絡精算 規格：(株)シーティーファクトリー製 CTF-GB/D111-OU17 管理番号：IPM_568 ／ 設置年：2017 拠点：10.地球惑星科学研究拠点
高分解能マルチコレクターICP質量分析計 自己測定 依頼測定 学内 学外 担当部局から連絡精算 規格：独国サーモフィッシャーサイエンティフィック社製 NEPTUNE Plus外 管理番号：IPM_569 ／ 設置年：2017 拠点：10.地球惑星科学研究拠点
表面電離型質量分析計 自己測定 依頼測定 学内 学外 担当部局から連絡精算 規格：独国サーモフィッシャーサイエンティフィック社製 TRITON Plus Bundle 2 SEM/RPQ外 管理番号：IPM_570 ／ 設置年：2017 拠点：10.地球惑星科学研究拠点
