機器・サービス

高分解能質量分析装置
自己測定 依頼測定 学内 CFPOU精算
規格:日本電子(株)JMS-700

管理番号:DIA_363 / 設置年:2009

拠点:分析計測・極低温部門分析計測分野

HPLC-Chip/QTOF質量分析システム
自己測定 依頼測定 学内 学外 要利用資格 CFPOU精算
規格:アジレントテクノロジー社 G6520型+G4240型

管理番号:DIA_392 / 設置年:2009

拠点:分析計測・極低温部門分析計測分野

ペプチドシーケンサー
自己測定 依頼測定 学内 学外 要利用資格 CFPOU精算
規格:島津・PPSQ-31A型

管理番号:DIA_393 / 設置年:2009

拠点:分析計測・極低温部門分析計測分野

元素分析装置
自己測定 依頼測定 学内 学外 CFPOU精算
規格:パーキン・エルマー社2400II

管理番号:DIA_394 / 設置年:2004

拠点:分析計測・極低温部門分析計測分野

水平型粉末X線回折装置
自己測定 依頼測定 学内 学外 CFPOU精算
規格:試料水平型回転対陰極式X線回折装置㈱リガク製(RINT-TTRⅢ-MTA) X線発生装置(18K

管理番号:DIA_471 / 設置年:2009

拠点:分析計測・極低温部門分析計測分野

微小単結晶構造回折装置
自己測定 依頼測定 学内 学外 要利用資格 CFPOU精算
規格:極微小結晶対応IP単結晶X線回折装置㈱リガク製RAPIDⅡWITH VARIMAX-CU システム,微小点X線発生装置(RA-MIC

管理番号:DIA_472 / 設置年:2009

拠点:分析計測・極低温部門分析計測分野

薄膜試料X線回折装置
自己測定 依頼測定 学内 学外 CFPOU精算
規格:薄膜評価用試料水平型X線回折装置㈱リガク製SMARTLAB-PRO,高輝度X線発生装置(9KW、CUロータターゲット),試料水

管理番号:DIA_473 / 設置年:2009

拠点:分析計測・極低温部門分析計測分野

デジタルマイクロスコープ
自己測定 学内 学外 CFPOU精算
規格:キーエンス社・VHX-2000SP(1554)型 リニアスライサー:堂阪イーエム(株)製

管理番号:DIA_517 / 設置年:2013

拠点:分析計測・極低温部門分析計測分野

連続フロー型同位体比質量分析計
自己測定 学内 学外 CFPOU精算
規格:Thermo Fisher Scientific・Delta V advantage (F13000000003495?000)

管理番号:DIA_540 / 設置年:2013

拠点:分析計測・極低温部門分析計測分野

電子線描画装置
自己測定 学内 CFPOU精算
規格:エリオニクス社・ELS-S50KB

管理番号:DIA_541 / 設置年:2014

拠点:分析計測・極低温部門分析計測分野

高圧変形ガイドブロック
自己測定 依頼測定 学内 学外 担当部局から連絡精算
規格:(株)シーティーファクトリー製 CTF-GB/D111-OU17

管理番号:IPM_568 / 設置年:2017

拠点:10.地球惑星科学研究拠点

高分解能マルチコレクターICP質量分析計
自己測定 依頼測定 学内 学外 担当部局から連絡精算
規格:独国サーモフィッシャーサイエンティフィック社製 NEPTUNE Plus外

管理番号:IPM_569 / 設置年:2017

拠点:10.地球惑星科学研究拠点

表面電離型質量分析計
自己測定 依頼測定 学内 学外 担当部局から連絡精算
規格:独国サーモフィッシャーサイエンティフィック社製 TRITON Plus Bundle 2 SEM/RPQ外

管理番号:IPM_570 / 設置年:2017

拠点:10.地球惑星科学研究拠点

高分解能核磁気共鳴装置
自己測定 依頼測定 学内 学外 担当部局から連絡精算
規格:独国ブルカー・バイオスピン社製 AVANCE NEO 400型

管理番号:IPM_571 / 設置年:2017

拠点:10.地球惑星科学研究拠点

表面電離型質量分析計
自己測定 依頼測定 学内 学外 担当部局から連絡精算
規格:独国サーモフィッシャーサイエンティフィック社製 TRITON Plus質量分析計

管理番号:IPM_572 / 設置年:2018

拠点:10.地球惑星科学研究拠点