機器・サービス

表面電離型質量分析計
自己測定 依頼測定 学内 学外 担当部局から連絡精算
規格:独国サーモフィッシャーサイエンティフィック社製 TRITON Plus質量分析計

管理番号:IPM_572 / 設置年:2018

拠点:10.地球惑星科学研究拠点

高分解能ICP質量分析計
自己測定 依頼測定 学内 学外 担当部局から連絡精算
規格:独国サーモフィッシャーサイエンティフィック社製iCAP TQ

管理番号:IPM_573 / 設置年:2018

拠点:10.地球惑星科学研究拠点

二次イオン質量分析計
依頼測定 学内 学外 担当部局から連絡精算
規格:フランス共和国 カメカ社製 IMS 1280-HR

管理番号:IPM_574 / 設置年:2018

拠点:10.地球惑星科学研究拠点

超遠心分離機
自己測定 学内 学外 担当部局から連絡精算
規格:ベックマン OPTIMA L-70K

管理番号:CRL_584 / 設置年:1998

拠点:医学部共同実験室

ゲルイメージングシステム
自己測定 学内 担当部局から連絡精算
規格:米国バイオ・ラッド社製ChemiDoc Touch

管理番号:CRL_585 / 設置年:2018

拠点:医学部共同実験室

卓上型超遠心機
自己測定 学内 CFPOU精算
規格:ベックマンOptima TL

管理番号:RRTL_591 / 設置年:1997

拠点:光・放射線情報解析部門RI津島施設

超微量分光光度計 NanoDrop OneC
自己測定 学内 学外 要利用資格 CFPOU精算
規格:サーモフィッシャーサイエンテフィック社

管理番号:DGP_596 / 設置年:2017

拠点:ゲノム・プロテオーム解析部門

円二色性分散計
自己測定 学内 学外 CFPOU精算
規格:日本分光J-1500

管理番号:598 / 設置年:2016

拠点:分析計測・極低温部門分析計測分野

セルソーターFACSAriaIII
自己測定 依頼測定 学内 学外 要利用資格 CFPOU精算
規格:米国ベクトン・ディッキンソン社製 4レーザー10カラータイプBDFACSAriaⅢ

管理番号:CRL_602 / 設置年:2018

拠点:医学部共同実験室

超遠心機
自己測定 学内 学外 要利用資格 CFPOU精算
規格:Beckmann coulter社: OPTIMA XE-90

管理番号:DGP_627 / 設置年:2018

拠点:ゲノム・プロテオーム解析部門

GCMS部(有機物質量分析計システム)
自己測定 依頼測定 学内 学外 担当部局から連絡精算
規格:米国サーモフィッシャサイエンティフィック社製ISQ LT,EI,真空ロック,300

管理番号:IPM_634 / 設置年:2018

拠点:10.地球惑星科学研究拠点

全真空赤外顕微鏡システム
自己測定 依頼測定 学内 学外 担当部局から連絡精算
規格:日本分光(株)製 IRT-5200IPMY

管理番号:IPM_637 / 設置年:2017

拠点:10.地球惑星科学研究拠点