電子プローブマイクロアナライザー
自己測定
依頼測定 学内 学外
CFPOU精算
規格：日本電子㈱製JXA8230
管理番号：DIA_4
設置年：2009
拠点：分析計測・極低温部門分析計測分野
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高性能走査プローブ顕微鏡
自己測定
学内 学外
CFPOU精算
規格：Bruker 社製高性能原子間力顕微鏡マルチモード8型AFM
管理番号：DIA_119
設置年：2014
拠点：分析計測・極低温部門分析計測分野
詳細
3次元光学プロファイラーシステム
自己測定
学内 学外
CFPOU精算
規格：Zygo社製 Newview 7300
管理番号：DIA_132
設置年：2009
拠点：分析計測・極低温部門分析計測分野
詳細
超精密現象デジタル解析装置
自己測定
学内 要利用資格
CFPOU精算
規格：Talor Hobson社製 Talyscan他
管理番号：145
設置年：2002
拠点：分析計測・極低温部門分析計測分野
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タンパク解析用LC-MSシステム_CRL_246
依頼測定 学内 学外
担当部局から連絡精算
規格：米国アジレント・テクノロジー
ナノフロープロテオミクスソリューションシステム
AGILENT XCTPLUS
管理番号：CRL_246
設置年：2005
拠点：医学部共同実験室
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5000トン超高圧発生装置
自己測定
依頼測定 学内 学外
担当部局から連絡精算
規格：住友重機械工業㈱製
SHP-5000外
管理番号：IPM_268
設置年：1978
拠点：10.地球惑星科学研究拠点
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