機器・サービス

MALDI-TOF型質量分析システム
依頼測定 学内 学外 要利用資格 CFPOU精算
規格:ブルカージャパン株式会社: UltrafleXtreme...

管理番号:DGP_507 / 設置年:2009

拠点:04.ゲノム・プロテオーム解析部門

赤外分光光度計
自己測定 依頼測定 学内 学外 担当部局から連絡精算
規格:日本分光(株)製 FT/IR-6200(NIR)

管理番号:IPM_554 / 設置年:2008

拠点:10.地球惑星科学研究拠点

赤外顕微鏡
自己測定 依頼測定 学内 学外 担当部局から連絡精算
規格:日本分光(株)製 IRT-7000N(NIR)

管理番号:IPM_555 / 設置年:2008

拠点:10.地球惑星科学研究拠点

モジュラー顕微ラマンシステム
自己測定 依頼測定 学内 学外 担当部局から連絡精算
規格:(株)堀場製作所製 iHR550-FIBMIC-DE-BXFM

管理番号:IPM_556 / 設置年:2016

拠点:10.地球惑星科学研究拠点

鉄材料用高速X線回折装置
自己測定 依頼測定 学内 学外 要利用資格 CFPOU精算
規格:リガク製試料水平型多目的X線回折装置 UltimaIV (2007年製)

管理番号:DIA_107 / 設置年:2014

拠点:分析計測・極低温部門分析計測分野

高分解能質量分析装置
自己測定 依頼測定 学内 CFPOU精算
規格:日本電子(株)JMS-700

管理番号:DIA_363 / 設置年:2009

拠点:分析計測・極低温部門分析計測分野

HPLC-Chip/QTOF質量分析システム
自己測定 依頼測定 学内 学外 要利用資格 CFPOU精算
規格:アジレントテクノロジー社 G6520型+G4240型

管理番号:DIA_392 / 設置年:2009

拠点:分析計測・極低温部門分析計測分野

ペプチドシーケンサー
自己測定 依頼測定 学内 学外 要利用資格 CFPOU精算
規格:島津・PPSQ-31A型

管理番号:DIA_393 / 設置年:2009

拠点:分析計測・極低温部門分析計測分野

元素分析装置
自己測定 依頼測定 学内 学外 CFPOU精算
規格:パーキン・エルマー社2400II

管理番号:DIA_394 / 設置年:2004

拠点:分析計測・極低温部門分析計測分野

水平型粉末X線回折装置
自己測定 依頼測定 学内 学外 CFPOU精算
規格:試料水平型回転対陰極式X線回折装置㈱リガク製(RINT-TTRⅢ-MTA) X線発生装置(18K

管理番号:DIA_471 / 設置年:2009

拠点:分析計測・極低温部門分析計測分野

微小単結晶構造回折装置
自己測定 依頼測定 学内 学外 要利用資格 CFPOU精算
規格:極微小結晶対応IP単結晶X線回折装置㈱リガク製RAPIDⅡWITH VARIMAX-CU システム,微小点X線発生装置(RA-MIC

管理番号:DIA_472 / 設置年:2009

拠点:分析計測・極低温部門分析計測分野

薄膜試料X線回折装置
自己測定 依頼測定 学内 学外 CFPOU精算
規格:薄膜評価用試料水平型X線回折装置㈱リガク製SMARTLAB-PRO,高輝度X線発生装置(9KW、CUロータターゲット),試料水

管理番号:DIA_473 / 設置年:2009

拠点:分析計測・極低温部門分析計測分野