顕微レーザーラマンシステム 自己測定 依頼測定 学内 学外 担当部局から連絡精算 規格：DXR Raman Microscope 管理番号：IPM_498 ／ 設置年：2011 拠点：10.地球惑星科学研究拠点
(植物ストレス応答反応解析システム)イオントラップガスクロマトグラフ質量分析装置 依頼測定 部局内限定 担当部局から連絡精算 規格：米国アジレント・テクノロジーズ・インク社製G3936AA240MS外 (F12000000004461) 管理番号：IPSR_504 ／ 設置年：2012 拠点：08.植物科学最先端研究拠点ネットワーク
高分解能誘導結合プラズマ質量分析システム 自己測定 依頼測定 学内 学外 担当部局から連絡精算 規格：独国サーモフィッシャーサイエンティフック社製 ELEMENT XR 管理番号：IPM_506 ／ 設置年：2013 拠点：10.地球惑星科学研究拠点
MALDI-TOF型質量分析システム 依頼測定 学内 学外 要利用資格 CFPOU精算 規格：ブルカージャパン株式会社： UltrafleXtreme... 管理番号：DGP_507 ／ 設置年：2009 拠点：ゲノム・プロテオーム解析部門
電界放出型電子プローブマイクロアナライザー 自己測定 依頼測定 学内 学外 担当部局から連絡精算 規格：日本電子(株)製 JXA-8530F 管理番号：IPM_523 ／ 設置年：2014 拠点：10.地球惑星科学研究拠点
(細胞ストレス生理解析システム)光合成蒸散測定装置 自己測定 依頼測定 学内 学外 担当部局から連絡精算 規格：メイワフォーシス株式会社製 LI-6400XTR、6400-17L (F11000000000054.007) 管理番号：IPSR_534 ／ 設置年：2011 拠点：08.植物科学最先端研究拠点ネットワーク
赤外分光光度計 自己測定 依頼測定 学内 学外 担当部局から連絡精算 規格：日本分光(株)製 FT/IR-6200(NIR) 管理番号：IPM_554 ／ 設置年：2008 拠点：10.地球惑星科学研究拠点
モジュラー顕微ラマンシステム 自己測定 依頼測定 学内 学外 担当部局から連絡精算 規格：(株)堀場製作所製 iHR550-FIBMIC-DE-BXFM 管理番号：IPM_556 ／ 設置年：2016 拠点：10.地球惑星科学研究拠点
鉄材料用高速X線回折装置 自己測定 依頼測定 学内 学外 要利用資格 CFPOU精算 規格：リガク製試料水平型多目的X線回折装置 UltimaIV (2007年製) 管理番号：DIA_107 ／ 設置年：2014 拠点：分析計測・極低温部門分析計測分野
CCD極微小単結晶自動X線構造解析装置 自己測定 依頼測定 学内 学外 CFPOU精算 規格：理学電機ValiMax with Saturn 管理番号：DIA_130 ／ 設置年：2011 拠点：分析計測・極低温部門分析計測分野
400MHz NMR装置（アジレント社） 自己測定 依頼測定 学内 学外 CFPOU精算 規格：Varian 400-MR ASW 管理番号：DIA_361 ／ 設置年：2010 拠点：分析計測・極低温部門分析計測分野
600MHz NMR装置（アジレント社） 自己測定 依頼測定 学内 学外 CFPOU精算 規格：Varian NMR System PS600 管理番号：DIA_362 ／ 設置年：2010 拠点：分析計測・極低温部門分析計測分野
HPLC-Chip/QTOF質量分析システム 自己測定 依頼測定 学内 学外 要利用資格 CFPOU精算 規格：アジレントテクノロジー社 G6520型+G4240型 管理番号：DIA_392 ／ 設置年：2009 拠点：分析計測・極低温部門分析計測分野
水平型粉末X線回折装置 自己測定 依頼測定 学内 学外 CFPOU精算 規格：試料水平型回転対陰極式X線回折装置㈱リガク製(RINT-TTRⅢ-MTA) X線発生装置(18K 管理番号：DIA_471 ／ 設置年：2009 拠点：分析計測・極低温部門分析計測分野
微小単結晶構造回折装置 自己測定 依頼測定 学内 学外 要利用資格 CFPOU精算 規格：極微小結晶対応IP単結晶X線回折装置㈱リガク製RAPIDⅡWITH VARIMAX-CU システム,微小点X線発生装置(RA-MIC 管理番号：DIA_472 ／ 設置年：2009 拠点：分析計測・極低温部門分析計測分野
薄膜試料X線回折装置 自己測定 依頼測定 学内 学外 CFPOU精算 規格：薄膜評価用試料水平型X線回折装置㈱リガク製SMARTLAB-PRO,高輝度X線発生装置(9KW、CUロータターゲット),試料水 管理番号：DIA_473 ／ 設置年：2009 拠点：分析計測・極低温部門分析計測分野
