水平型粉末X線回折装置
自己測定
依頼測定 学内 学外
CFPOU精算
規格：試料水平型回転対陰極式X線回折装置㈱リガク製(RINT-TTRⅢ-MTA) X線発生装置(18K
管理番号：DIA_471
設置年：2009
拠点：分析計測・極低温部門分析計測分野
詳細
微小単結晶構造回折装置
自己測定
依頼測定 学内 学外
要利用資格
CFPOU精算
規格：極微小結晶対応IP単結晶X線回折装置㈱リガク製RAPIDⅡWITH VARIMAX-CU システム,微小点X線発生装置(RA-MIC
管理番号：DIA_472
設置年：2009
拠点：分析計測・極低温部門分析計測分野
詳細
薄膜試料X線回折装置
自己測定
依頼測定 学内 学外
CFPOU精算
規格：薄膜評価用試料水平型X線回折装置㈱リガク製SMARTLAB-PRO,高輝度X線発生装置(9KW、CUロータターゲット),試料水
管理番号：DIA_473
設置年：2009
拠点：分析計測・極低温部門分析計測分野
詳細
デジタルマイクロスコープ
自己測定
学内 学外
CFPOU精算
規格：キーエンス社・VHX-2000SP(1554)型
リニアスライサー:堂阪イーエム(株)製
管理番号：DIA_517
設置年：2013
拠点：分析計測・極低温部門分析計測分野
詳細
連続フロー型同位体比質量分析計
自己測定
学内
CFPOU精算
規格：Thermo Fisher Scientific・Delta V advantage
(F13000000003495?000)
管理番号：DIA_540
設置年：2013
拠点：分析計測・極低温部門分析計測分野
詳細
イオントラップ型質量分析装置/LCシステム(高性能気液相導入質量分析装置)
自己測定
依頼測定 学内 学外
CFPOU精算
規格：Bruker Daltonics, HCT
管理番号：DIA_350-2
設置年：2009
拠点：分析計測・極低温部門分析計測分野
詳細
D111型変形機能付マルチアンビル装置
自己測定
依頼測定 学内 学外
担当部局から連絡精算
規格：(株)シーティーファクトリー製
CTF-GB/D111-OU17
管理番号：IPM_568
設置年：2017
拠点：10.地球惑星科学研究拠点
詳細
マルチコレクション誘導結合プラズマ質量分析
自己測定
依頼測定 学内 学外
担当部局から連絡精算
規格：独国サーモフィッシャーサイエンティフィック社製
NEPTUNE plus
管理番号：IPM_569
設置年：2017
拠点：10.地球惑星科学研究拠点
詳細
表面電離型質量分析装置
自己測定
依頼測定 学内 学外
担当部局から連絡精算
規格：独国サーモフィッシャーサイエンティフィック社製
TRITON Plus Bundle 2 SEM/RPQ外
管理番号：IPM_570
設置年：2017
拠点：10.地球惑星科学研究拠点
詳細
高分解能核磁気共鳴装置
自己測定
依頼測定 学内 学外
担当部局から連絡精算
規格：独国ブルカー・バイオスピン社製
AVANCE NEO 400型
管理番号：IPM_571
設置年：2017
拠点：10.地球惑星科学研究拠点
詳細
表面電離型質量分析装置
自己測定
依頼測定 学内 学外
担当部局から連絡精算
規格：独国サーモフィッシャーサイエンティフィック社製
TRITON Plus質量分析計
管理番号：IPM_572
設置年：2018
拠点：10.地球惑星科学研究拠点
詳細
誘導結合プラズマ質量分析計
自己測定
依頼測定 学内 学外
担当部局から連絡精算
規格：独国サーモフィッシャーサイエンティフィック社製iCAP TQ
管理番号：IPM_573
設置年：2018
拠点：10.地球惑星科学研究拠点
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高分解能型二次イオン質量分析装置
依頼測定 学内 学外
担当部局から連絡精算
規格：フランス共和国 カメカ社製
IMS-1280HR
管理番号：IPM_574
設置年：2018
拠点：10.地球惑星科学研究拠点
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in vivoイメージングシステム (蛍光・化学発光画像解析装置)
自己測定
学内
CFPOU精算
規格：IVIS Lumina In Vivo Imaging System
管理番号：DAR_053
設置年：2008
拠点：動物資源部門
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CRL_585_ゲルイメージングシステム
自己測定
学内
担当部局から連絡精算
規格：米国バイオ・ラッド社製ChemiDoc Touch
管理番号：CRL_585
設置年：2018
拠点：医学部共同実験室
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