400MHz NMR装置（アジレント社）
自己測定
依頼測定 学内 学外
CFPOU精算
規格：Varian 400-MR ASW
管理番号：DIA_361
設置年：2010
拠点：分析計測・極低温部門分析計測分野
詳細
600MHz NMR装置（アジレント社）
自己測定
依頼測定 学内 学外
CFPOU精算
規格：Varian NMR System PS600
管理番号：DIA_362
設置年：2010
拠点：分析計測・極低温部門分析計測分野
詳細
HPLC-Chip/QTOF質量分析システム
自己測定
依頼測定 学内 学外
要利用資格
CFPOU精算
規格：アジレントテクノロジー社 G6520型+G4240型
管理番号：DIA_392
設置年：2009
拠点：分析計測・極低温部門分析計測分野
詳細
ペプチドシーケンサー
自己測定
依頼測定 学内 学外
要利用資格
CFPOU精算
規格：島津・PPSQ-31A型
管理番号：DIA_393
設置年：2009
拠点：分析計測・極低温部門分析計測分野
詳細
水平型粉末X線回折装置
自己測定
依頼測定 学内 学外
CFPOU精算
規格：試料水平型回転対陰極式X線回折装置㈱リガク製(RINT-TTRⅢ-MTA) X線発生装置(18K
管理番号：DIA_471
設置年：2009
拠点：分析計測・極低温部門分析計測分野
詳細
微小単結晶構造回折装置
自己測定
依頼測定 学内 学外
要利用資格
CFPOU精算
規格：極微小結晶対応IP単結晶X線回折装置㈱リガク製RAPIDⅡWITH VARIMAX-CU システム,微小点X線発生装置(RA-MIC
管理番号：DIA_472
設置年：2009
拠点：分析計測・極低温部門分析計測分野
詳細
薄膜試料X線回折装置
自己測定
依頼測定 学内 学外
CFPOU精算
規格：薄膜評価用試料水平型X線回折装置㈱リガク製SMARTLAB-PRO,高輝度X線発生装置(9KW、CUロータターゲット),試料水
管理番号：DIA_473
設置年：2009
拠点：分析計測・極低温部門分析計測分野
詳細
デジタルマイクロスコープ
自己測定
学内 学外
CFPOU精算
規格：キーエンス社・VHX-2000SP(1554)型
リニアスライサー:堂阪イーエム(株)製
管理番号：DIA_517
設置年：2013
拠点：分析計測・極低温部門分析計測分野
詳細
連続フロー型同位体比質量分析計
自己測定
学内 学外
CFPOU精算
規格：Thermo Fisher Scientific・Delta V advantage
(F13000000003495?000)
管理番号：DIA_540
設置年：2013
拠点：分析計測・極低温部門分析計測分野
詳細
オートサンプラ付ガスクロマトグラフ質量分析計
自己測定
部局内限定
規格：オートサンプラ付GCMS・島津・GCMS-QP2010
管理番号：669
設置年：2018
拠点：分析計測・極低温部門分析計測分野
詳細
イオントラップ型質量分析装置/LCシステム(高性能気液相導入質量分析装置)
自己測定
依頼測定 学内
CFPOU精算
規格：Bruker Daltonics, HCT
管理番号：DIA_350-2
設置年：2009
拠点：分析計測・極低温部門分析計測分野
詳細
飛行時間型質量分析装置(高性能気液相導入質量分析装置)
自己測定
依頼測定 学内 学外
CFPOU精算
規格：Bruker Daltonics, micrOTOF II
管理番号：DIA_350-3
設置年：2009
拠点：分析計測・極低温部門分析計測分野
詳細
高圧変形ガイドブロック
自己測定
依頼測定 学内 学外
担当部局から連絡精算
規格：(株)シーティーファクトリー製
CTF-GB/D111-OU17
管理番号：IPM_568
設置年：2017
拠点：10.地球惑星科学研究拠点
詳細
高分解能マルチコレクターICP質量分析計
自己測定
依頼測定 学内 学外
担当部局から連絡精算
規格：独国サーモフィッシャーサイエンティフィック社製
NEPTUNE Plus外
管理番号：IPM_569
設置年：2017
拠点：10.地球惑星科学研究拠点
詳細
表面電離型質量分析計
自己測定
依頼測定 学内 学外
担当部局から連絡精算
規格：独国サーモフィッシャーサイエンティフィック社製
TRITON Plus Bundle 2 SEM/RPQ外
管理番号：IPM_570
設置年：2017
拠点：10.地球惑星科学研究拠点
詳細
高分解能核磁気共鳴装置
自己測定
依頼測定 学内 学外
担当部局から連絡精算
規格：独国ブルカー・バイオスピン社製
AVANCE NEO 400型
管理番号：IPM_571
設置年：2017
拠点：10.地球惑星科学研究拠点
詳細