★テスト公開★He液化システム用回収圧縮機(増設)
自己測定
学内
規格：Bauer社G18.1-15-5、風量33.6Nm3/h
管理番号：★テスト公開★DIC_519
設置年：2008
拠点：分析計測・極低温部門極低温分野
詳細
★テスト公開★He液化システム用液体He貯槽(更新)
自己測定
学内
規格：Cti-Cryenco社LC1000
管理番号：★テスト公開★DIC_520
設置年：1986
拠点：分析計測・極低温部門極低温分野
詳細
電界放出型電子プローブマイクロアナライザー
自己測定
依頼測定 学内 学外
担当部局から連絡精算
規格：日本電子(株)製 JXA-8530F
管理番号：IPM_523
設置年：2014
拠点：10.地球惑星科学研究拠点
詳細
(細胞ストレス生理解析システム)オーサイトクランプ測定システム
自己測定
部局内限定
担当部局から連絡精算
規格：インターメディカル製
IM-OCCLAMP-S
(F11000000000054.000)
管理番号：IPSR_532
設置年：2011
拠点：資源植物科学研究所
詳細
(細胞ストレス生理解析システム)パッチクランプ測定システム
自己測定
部局内限定
担当部局から連絡精算
規格：インターメディカル製
IM-PACLAMP-S
(F11000000000054.001)
管理番号：IPSR_533
設置年：2011
拠点：09.資源植物科学研究所
詳細
(細胞ストレス生理解析システム)光合成蒸散測定装置
自己測定
依頼測定 学内 学外
担当部局から連絡精算
規格：メイワフォーシス株式会社製
LI-6400XTR、6400-17L
(F11000000000054.007)
管理番号：IPSR_534
設置年：2011
拠点：資源植物科学研究所
詳細
高速液体クロマトグラフ
自己測定
部局内限定
担当部局から連絡精算
規格：米国アジレント・テクノロジー社製
(F11000000000190)
管理番号：IPSR_535
設置年：2011
拠点：09.資源植物科学研究所
詳細
薄膜X線解析装置（X'pert PRO MRD)
自己測定
部局内限定
その他精算
規格：パナリティカル社
Xpert-PRO MRDシステム
(平成15年原取)
管理番号：543
設置年：2014
拠点：その他のグループに所属（工学部）
詳細
モジュラー顕微ラマンシステム
自己測定
依頼測定 学内 学外
担当部局から連絡精算
規格：(株)堀場製作所製
iHR550-FIBMIC-DE-BXFM
管理番号：IPM_556
設置年：2016
拠点：10.地球惑星科学研究拠点
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CRL_566_リアルタイムPCR
自己測定
学内 学外
担当部局から連絡精算
規格：米国ライフテクノロジーズ社StepONE Plus
管理番号：CRL_566
設置年：2009
拠点：医学部共同実験室
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CRL_567_マイクロプレートリーダー
自己測定
学内 学外
担当部局から連絡精算
規格：モレキュラーデバイス Flexstation3
管理番号：CRL_567
設置年：2010
拠点：医学部共同実験室
詳細
生物用共焦点レーザ走査型顕微鏡
自己測定
学内 学外
要利用資格
CFPOU精算
規格：生物用共焦点レーザ走査型顕微鏡
オリンパス(株)製FV1200-IX83
レンダリング/解析システム
アンドール・テクノロジーPLC社製
管理番号：DGP_13
設置年：2013
拠点：ゲノム・プロテオーム解析部門
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鉄材料用高速X線回折装置
自己測定
依頼測定 学内 学外
要利用資格
CFPOU精算
規格：リガク製試料水平型多目的X線回折装置 UltimaIV
(2007年製)
管理番号：DIA_107
設置年：2014
拠点：分析計測・極低温部門分析計測分野
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