機器・サービス

電界放出型電子プローブマイクロアナライザー
電界放出型電子プローブマイクロアナライザー
自己測定 依頼測定 学内 学外 担当部局から連絡精算
規格:日本電子(株)製 JXA-8530F
管理番号:IPM_523
設置年:2014
拠点:10.地球惑星科学研究拠点
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(細胞ストレス生理解析システム)オーサイトクランプ測定システム
(細胞ストレス生理解析システム)オーサイトクランプ測定システム
自己測定 部局内限定 担当部局から連絡精算
規格:インターメディカル製 IM-OCCLAMP-S (F11000000000054.000)
管理番号:IPSR_532
設置年:2011
拠点:09.資源植物科学研究所
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(細胞ストレス生理解析システム)パッチクランプ測定システム
(細胞ストレス生理解析システム)パッチクランプ測定システム
自己測定 部局内限定 担当部局から連絡精算
規格:インターメディカル製 IM-PACLAMP-S (F11000000000054.001)
管理番号:IPSR_533
設置年:2011
拠点:09.資源植物科学研究所
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(細胞ストレス生理解析システム)光合成蒸散測定装置
(細胞ストレス生理解析システム)光合成蒸散測定装置
自己測定 依頼測定 学内 学外 担当部局から連絡精算
規格:メイワフォーシス株式会社製 LI-6400XTR、6400-17L (F11000000000054.007)
管理番号:IPSR_534
設置年:2011
拠点:08.植物科学最先端研究拠点ネットワーク
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高速液体クロマトグラフ
高速液体クロマトグラフ
自己測定 部局内限定 担当部局から連絡精算
規格:米国アジレント・テクノロジー社製 (F11000000000190)
管理番号:IPSR_535
設置年:2011
拠点:09.資源植物科学研究所
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クリーンルーム用薄膜X線解析装置
クリーンルーム用薄膜X線解析装置
自己測定 学内
規格:パナリティカル社 Xpert-PRO MRDシステム (平成15年原取)
管理番号:543
設置年:2014
拠点:分析計測・極低温部門分析計測分野
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高真空抵抗加熱蒸着装置
高真空抵抗加熱蒸着装置
自己測定 学内 CFPOU精算
規格:旭商会 (平成17年原取)
管理番号:DIA_544
設置年:2014
拠点:分析計測・極低温部門分析計測分野
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エッチング装置
エッチング装置
自己測定 学内
規格:キャノンアネルバ(株) L-210-L (平成8年原取)
管理番号:545
設置年:2014
拠点:分析計測・極低温部門分析計測分野
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オールインワン蛍光顕微鏡_CRL_552
オールインワン蛍光顕微鏡_CRL_552
自己測定 学内 学外 担当部局から連絡精算
規格:キーエンス BZ-X700
管理番号:CRL_552
設置年:2014
拠点:医学部共同実験室
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赤外分光光度計
赤外分光光度計
自己測定 依頼測定 学内 学外 担当部局から連絡精算
規格:日本分光(株)製 FT/IR-6200(NIR)
管理番号:IPM_554
設置年:2008
拠点:10.地球惑星科学研究拠点
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赤外顕微鏡
赤外顕微鏡
自己測定 依頼測定 学内 学外 担当部局から連絡精算
規格:日本分光(株)製 IRT-7000N(NIR)
管理番号:IPM_555
設置年:2008
拠点:10.地球惑星科学研究拠点
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モジュラー顕微ラマンシステム
モジュラー顕微ラマンシステム
自己測定 依頼測定 学内 学外 担当部局から連絡精算
規格:(株)堀場製作所製 iHR550-FIBMIC-DE-BXFM
管理番号:IPM_556
設置年:2016
拠点:10.地球惑星科学研究拠点
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卓上顕微鏡
卓上顕微鏡
自己測定 部局内限定 担当部局から連絡精算
規格:(株)日立ハイテクノロジーズ
管理番号:IPSR_558
設置年:2012
拠点:09.資源植物科学研究所
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リアルタイムPCR_CRL_566
リアルタイムPCR_CRL_566
自己測定 学内 学外 担当部局から連絡精算
規格:米国ライフテクノロジーズ社StepONE Plus
管理番号:CRL_566
設置年:2009
拠点:医学部共同実験室
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マイクロプレートリーダー_CRL_567
マイクロプレートリーダー_CRL_567
自己測定 学内 学外 担当部局から連絡精算
規格:モレキュラーデバイス Flexstation3
管理番号:CRL_567
設置年:2010
拠点:医学部共同実験室
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生物用共焦点レーザ走査型顕微鏡
生物用共焦点レーザ走査型顕微鏡
自己測定 学内 学外 要利用資格 CFPOU精算
規格:生物用共焦点レーザ走査型顕微鏡 オリンパス(株)製FV1200-IX83 レンダリング/解析システム アンドール・テクノロジーPLC社製
管理番号:DGP_13
設置年:2013
拠点:ゲノム・プロテオーム解析部門
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レーザーイオン化四重極イオントラップ飛行時間型質量分析装置
レーザーイオン化四重極イオントラップ飛行時間型質量分析装置
学内
規格:島津製作所 AXIMA-QIT
管理番号:93
設置年:2005
拠点:分析計測・極低温部門分析計測分野
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鉄材料用高速X線回折装置
鉄材料用高速X線回折装置
自己測定 依頼測定 学内 学外 要利用資格 CFPOU精算
規格:リガク製試料水平型多目的X線回折装置 UltimaIV (2007年製)
管理番号:DIA_107
設置年:2014
拠点:分析計測・極低温部門分析計測分野
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CCD極微小単結晶自動X線構造解析装置
CCD極微小単結晶自動X線構造解析装置
自己測定 依頼測定 学内 学外 CFPOU精算
規格:理学電機ValiMax with Saturn
管理番号:DIA_130
設置年:2011
拠点:分析計測・極低温部門分析計測分野
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生体高分子用X線回折装置
生体高分子用X線回折装置
自己測定 学内 CFPOU精算
規格:RA-Micro7HFM
管理番号:DIA_358
設置年:2009
拠点:分析計測・極低温部門分析計測分野
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