機器・サービス

(細胞ストレス生理解析システム)光合成蒸散測定装置
(細胞ストレス生理解析システム)光合成蒸散測定装置
自己測定 依頼測定 学内 学外 担当部局から連絡精算
規格:メイワフォーシス株式会社製 LI-6400XTR、6400-17L (F11000000000054.007)
管理番号:IPSR_534
設置年:2011
拠点:資源植物科学研究所
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高速液体クロマトグラフ
高速液体クロマトグラフ
自己測定 部局内限定 担当部局から連絡精算
規格:米国アジレント・テクノロジー社製 (F11000000000190)
管理番号:IPSR_535
設置年:2011
拠点:09.資源植物科学研究所
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薄膜X線解析装置(X'pert PRO MRD)
薄膜X線解析装置(X'pert PRO MRD)
自己測定 部局内限定 その他精算
規格:パナリティカル社 Xpert-PRO MRDシステム (平成15年原取)
管理番号:543
設置年:2014
拠点:その他のグループに所属(工学部)
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高真空抵抗加熱蒸着装置
高真空抵抗加熱蒸着装置
自己測定 学内 CFPOU精算
規格:旭商会 (平成17年原取)
管理番号:DIA_544
設置年:2014
拠点:分析計測・極低温部門分析計測分野
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CRL_552_オールインワン蛍光顕微鏡
CRL_552_オールインワン蛍光顕微鏡
自己測定 学内 学外 担当部局から連絡精算
規格:キーエンス BZ-X700
管理番号:CRL_552
設置年:2014
拠点:医学部共同実験室
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顕微フーリエ変換赤外-ラマンハイフネーテッド分光装置
顕微フーリエ変換赤外-ラマンハイフネーテッド分光装置
自己測定 依頼測定 学内 学外 担当部局から連絡精算
規格:日本分光(株)製 IRT-7000N(NIR) - FT/IR-6200(NIR) - RMP-DAC
管理番号:IPM_554
設置年:2008
拠点:10.地球惑星科学研究拠点
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モジュラー顕微ラマンシステム
モジュラー顕微ラマンシステム
自己測定 依頼測定 学内 学外 担当部局から連絡精算
規格:(株)堀場製作所製 iHR550-FIBMIC-DE-BXFM
管理番号:IPM_556
設置年:2016
拠点:10.地球惑星科学研究拠点
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卓上顕微鏡
卓上顕微鏡
自己測定 部局内限定 担当部局から連絡精算
規格:(株)日立ハイテクノロジーズ
管理番号:IPSR_558
設置年:2012
拠点:09.資源植物科学研究所
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フローサイトメーター
フローサイトメーター
自己測定 学内
規格:ベックマン・コールター社(Gallios 2L6C)
管理番号:561
設置年:2013
拠点:12.その他のグループに所属(生殖補助医療技術教育研究センター)
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CRL_566_リアルタイムPCR
CRL_566_リアルタイムPCR
自己測定 学内 学外 担当部局から連絡精算
規格:米国ライフテクノロジーズ社StepONE Plus
管理番号:CRL_566
設置年:2009
拠点:医学部共同実験室
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CRL_567_マイクロプレートリーダー
CRL_567_マイクロプレートリーダー
自己測定 学内 学外 担当部局から連絡精算
規格:モレキュラーデバイス Flexstation3
管理番号:CRL_567
設置年:2010
拠点:医学部共同実験室
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DGP_13_生物用共焦点レーザ走査型顕微鏡
DGP_13_生物用共焦点レーザ走査型顕微鏡
自己測定 学内 学外 要利用資格 CFPOU精算
規格:生物用共焦点レーザ走査型顕微鏡 オリンパス(株)製FV1200-IX83 レンダリング/解析システム アンドール・テクノロジーPLC社製
管理番号:DGP_13
設置年:2013
拠点:ゲノム・プロテオーム解析部門
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鉄材料用高速X線回折装置
鉄材料用高速X線回折装置
自己測定 依頼測定 学内 学外 要利用資格 CFPOU精算
規格:リガク製試料水平型多目的X線回折装置 UltimaIV (2007年製)
管理番号:DIA_107
設置年:2014
拠点:分析計測・極低温部門分析計測分野
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CCD極微小単結晶自動X線構造解析装置
CCD極微小単結晶自動X線構造解析装置
自己測定 依頼測定 学内 学外 CFPOU精算
規格:理学電機ValiMax with Saturn
管理番号:DIA_130
設置年:2011
拠点:分析計測・極低温部門分析計測分野
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生体高分子用X線回折装置
生体高分子用X線回折装置
自己測定 学内 CFPOU精算
規格:RA-Micro7HFM
管理番号:DIA_358
設置年:2009
拠点:分析計測・極低温部門分析計測分野
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600MHz NMR装置(アジレント社)
600MHz NMR装置(アジレント社)
自己測定 依頼測定 学内 学外 CFPOU精算
規格:Varian NMR System PS600
管理番号:DIA_362
設置年:2010
拠点:分析計測・極低温部門分析計測分野
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高分解能質量分析装置
高分解能質量分析装置
自己測定 依頼測定 学内 CFPOU精算
規格:日本電子(株)JMS-700
管理番号:DIA_363
設置年:2009
拠点:分析計測・極低温部門分析計測分野
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ペプチドシーケンサー
ペプチドシーケンサー
自己測定 依頼測定 学内 学外 要利用資格 CFPOU精算
規格:島津・PPSQ-31A型
管理番号:DIA_393
設置年:2009
拠点:分析計測・極低温部門分析計測分野
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元素分析装置
元素分析装置
自己測定 依頼測定 学内 学外 CFPOU精算
規格:パーキン・エルマー社2400II
管理番号:DIA_394
設置年:2004
拠点:分析計測・極低温部門分析計測分野
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原子吸光分光光度計-オートサンプラ付
原子吸光分光光度計-オートサンプラ付
自己測定 学内 学外 CFPOU精算
規格:島津製作所 AA-6300
管理番号:DIA_395
設置年:2005
拠点:分析計測・極低温部門分析計測分野
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