マグマ物性測定システム
自己測定
依頼測定 学内 学外
担当部局から連絡精算
規格：住友重機械工業㈱製
UHP2000-20
管理番号：IPM_282
設置年：1995
拠点：10.地球惑星科学研究拠点
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マルチコレクタ表面電離型質量分析装置
自己測定
依頼測定 学内 学外
担当部局から連絡精算
規格：サーモエレクトロン社製
TRITON外
管理番号：IPM_293
設置年：2004
拠点：10.地球惑星科学研究拠点
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低真空走査型電子顕微鏡_CRL_299
自己測定
依頼測定 学内 学外
担当部局から連絡精算
規格：日立製作所
S-3200N
管理番号：CRL_299
設置年：1995
拠点：医学部共同実験室
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微細結晶方位解析システム
自己測定
依頼測定 学内 学外
担当部局から連絡精算
規格：日本電子㈱
JSM-7001F 外
管理番号：IPM_322
設置年：2009
拠点：10.地球惑星科学研究拠点
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高精度安定同位体比質量分析計
自己測定
依頼測定 学内 学外
担当部局から連絡精算
規格：独国サーモフィッシャーサイエンティフック社製
管理番号：IPM_325
設置年：2009
拠点：10.地球惑星科学研究拠点
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希ガス用同位対比測定用質量分析計
自己測定
依頼測定 学内 学外
担当部局から連絡精算
規格：独国サーモフィッシャーサイエンティフック社製
管理番号：IPM_326
設置年：2009
拠点：10.地球惑星科学研究拠点
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研究開発用マグネトロンスパッタリング装置
自己測定
依頼測定 学内 学外
担当部局から連絡精算
規格：芝浦メカトロニクス（株）製CFS
管理番号：IPM_330
設置年：2010
拠点：10.地球惑星科学研究拠点
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