一軸加圧式川井型超高圧発生装置
自己測定
依頼測定 学内 学外
担当部局から連絡精算
規格：住友重機械工業㈱製USSA-1000
管理番号：IPM_269
設置年：1986
拠点：10.地球惑星科学研究拠点
詳細
希ガス測定用質量分析装置
自己測定
依頼測定 学内 学外
担当部局から連絡精算
規格：VGアイソトープス Micromass
VG5400外
管理番号：IPM_272
設置年：1987
拠点：10.地球惑星科学研究拠点
詳細
超高圧高温マグマ物性測定装置
自己測定
依頼測定 学内 学外
担当部局から連絡精算
規格：住友重機械工業㈱製
UHP2000-20(AMAGAEL)
管理番号：IPM_282
設置年：1995
拠点：10.地球惑星科学研究拠点
詳細
表面電離型質量分析装置
自己測定
依頼測定 学内 学外
担当部局から連絡精算
規格：サーモエレクトロン社製
TRITON外
管理番号：IPM_293
設置年：2004
拠点：10.地球惑星科学研究拠点
詳細
CRL_299_低真空走査型電子顕微鏡
自己測定
依頼測定 学内 学外
担当部局から連絡精算
規格：日立製作所
S-3200N
管理番号：CRL_299
設置年：1995
拠点：医学部共同実験室
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低真空電界放出型走査電子顕微鏡装置
自己測定
依頼測定 学内 学外
担当部局から連絡精算
規格：日本電子㈱
JSM-7001F (EDS 分析装置 付)
管理番号：IPM_322
設置年：2009
拠点：10.地球惑星科学研究拠点
詳細
安定同位体比測定用質量分析装置
自己測定
依頼測定 学内 学外
担当部局から連絡精算
規格：独国サーモフィッシャーサイエンティフック社製MAT253
管理番号：IPM_325
設置年：2009
拠点：10.地球惑星科学研究拠点
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希ガス測定用質量分析装置
自己測定
依頼測定 学内 学外
担当部局から連絡精算
規格：独国サーモフィッシャーサイエンティフック社製Helix
管理番号：IPM_326
設置年：2009
拠点：10.地球惑星科学研究拠点
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複合集束ビーム試料加工装置
自己測定
依頼測定 学内 学外
担当部局から連絡精算
規格：日本電子㈱製JIB-4500
管理番号：IPM_328
設置年：2009
拠点：10.地球惑星科学研究拠点
詳細
高真空電界放出型走査電子顕微鏡装置
自己測定
依頼測定 学内 学外
担当部局から連絡精算
規格：日本電子㈱製JSM-7001F (EDS 分析装置 付)
管理番号：IPM_329
設置年：2009
拠点：10.地球惑星科学研究拠点
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