ESDシステム、EBSDシステム付き電界放出形走査電子顕微鏡
自己測定
依頼測定 学内 学外
担当部局から連絡精算
規格：日本電子㈱製
JSM-7001F外
管理番号：IPM_454
設置年：2008
拠点：10.地球惑星科学研究拠点
詳細
走査電子顕微鏡(SEM)(エネルギー分散型X線分析装置含む)
学内
CFPOU精算
規格：本体:
キーエンスSEMVE-9800
(資産管理番号:140015003044)
分析装置:
EDAX社EDX検出装置
(資産管理番号:140015003092)
管理番号：487
設置年：2008
拠点：分析計測・極低温部門分析計測分野
詳細
生体分子間相互作用解析装置
自己測定
学内 学外
要利用資格
CFPOU精算
規格：GEヘルスケア:
BiacoreX100 PlusPackage Ver.2
管理番号：DGP_492
設置年：2009
拠点：ゲノム・プロテオーム解析部門
詳細
ルミノ・イメージアナライザー
自己測定
学内 学外
要利用資格
CFPOU精算
規格：GEヘルスケア:
ImageQuant LAS 4010システム
管理番号：DGP_493
設置年：2009
拠点：ゲノム・プロテオーム解析部門
詳細
圧力測定用ラマンユニット
自己測定
依頼測定 学内 学外
担当部局から連絡精算
規格：日本分光(株)製
RMP-DAC
管理番号：IPM_496
設置年：2009
拠点：10.地球惑星科学研究拠点
詳細
顕微レーザーラマンシステム
自己測定
依頼測定 学内 学外
担当部局から連絡精算
規格：DXR Raman Microscope
管理番号：IPM_498
設置年：2011
拠点：10.地球惑星科学研究拠点
詳細
(植物ストレス応答反応解析システム)レーザーマイクロダイセクションシステム
自己測定
部局内限定
担当部局から連絡精算
規格：米国ライフテクノロジーズ社製
ARCTURUSXT-EB外
(F12000000004459)
管理番号：IPSR_503
設置年：2012
拠点：資源植物科学研究所
詳細
(植物ストレス応答反応解析システム)イオントラップガスクロマトグラフ質量分析装置
依頼測定 部局内限定
担当部局から連絡精算
規格：米国アジレント・テクノロジーズ・インク社製G3936AA240MS外
(F12000000004461)
管理番号：IPSR_504
設置年：2012
拠点：資源植物科学研究所
詳細
高分解能誘導結合プラズマ質量分析システム
自己測定
依頼測定 学内 学外
担当部局から連絡精算
規格：独国サーモフィッシャーサイエンティフック社製
ELEMENT XR
管理番号：IPM_506
設置年：2013
拠点：10.地球惑星科学研究拠点
詳細
MALDI-TOF型質量分析システム
自己測定
依頼測定 学内 学外
要利用資格
CFPOU精算
規格：ブルカージャパン株式会社：
UltrafleXtreme...
管理番号：DGP_507
設置年：2009
拠点：ゲノム・プロテオーム解析部門
詳細
リアルタイムPCR装置
自己測定
学内 学外
要利用資格
CFPOU精算
規格：Life Technologies社:
Step one plus Real-time PCR
管理番号：DGP_508
設置年：2009
拠点：ゲノム・プロテオーム解析部門
詳細
液体シンチレーションカウンター
自己測定
学内 学外
要利用資格
CFPOU精算
規格：Perkin Elmer社:
TriCarb2800TRs
管理番号：DGP_512
設置年：2005
拠点：ゲノム・プロテオーム解析部門
詳細
