走査型電子顕微鏡_CRL_336
自己測定
依頼測定 学内 学外
担当部局から連絡精算
規格：(株)日立ハイテクノロジーズS-4800型
管理番号：CRL_336
設置年：2009
拠点：医学部共同実験室
詳細
透過型電子顕微鏡_CRL_339
自己測定
依頼測定 学内 学外
担当部局から連絡精算
規格：(株)日立ハイテクノロジーズH-7650型
管理番号：CRL_339
設置年：2009
拠点：医学部共同実験室
詳細
DNAシーケンサー_CRL_342
自己測定
依頼測定 学内 学外
担当部局から連絡精算
規格：米国ライフテクノロジーApplied Biosystems 3130xl
ジェネティックアナライザJP3130XLL
管理番号：CRL_342
設置年：2009
拠点：医学部共同実験室
詳細
レーザーラマン分光光度計
自己測定
学内
CFPOU精算
規格：日本分光(株)製NRS-3100(分析計測分野移設 2023年3月)
管理番号：DIA_343
設置年：2010
拠点：分析計測・極低温部門分析計測分野
詳細
セルファンクションイメージャー
自己測定
学内
担当部局から連絡精算
規格：米国サーモフィッシャーサイエンティフィック
Cellomics ArrayScan VTI HCS Reader CX03102A-5
管理番号：ARCOCS_345
設置年：2009
拠点：12.歯学部先端領域研究センター
詳細
ガスクロマトグラフ質量分析装置(高性能気液相導入質量分析装置)
自己測定
依頼測定 学内 学外
要利用資格
CFPOU精算
規格：島津, QP2010 Plus
管理番号：DIA_350
設置年：2009
拠点：分析計測・極低温部門分析計測分野
詳細
SQUID式磁化測定装置
自己測定
依頼測定 学内 学外
CFPOU精算
規格：米国カンタム・デザイン社MPMS-SQUID VSM 7テスラ磁気特性測定システム
管理番号：367
設置年：2009
拠点：分析計測・極低温部門分析計測分野
詳細
分析SEM/FIB複合機
自己測定
依頼測定 学内 学外
規格：JIB-4500, EDS, EBSP(使用不可)
管理番号：373
設置年：2009
拠点：30.その他のグループに所属(ナノ構造解析・分析ユニット)
詳細
表面電離型質量分析装置
自己測定
学内 学外
要利用資格
CFPOU精算
規格：フィニガン・マット・インスツルメンツ・インク製MAT262
管理番号：396
設置年：1995
拠点：分析計測・極低温部門分析計測分野
詳細
ESI-イオントラップ型質量分析システム
依頼測定 学内 学外
要利用資格
CFPOU精算
規格：ブルカージャパン株式会社：
amaZonETD-OF、
nanoElute
マトリックスサイエンス社：
MASCOT server(version 2.8.2)、
MASCOT...
管理番号：DGP_403
設置年：2010
拠点：ゲノム・プロテオーム解析部門
詳細
省エネ型組換え植物育成装置
自己測定
部局内限定
担当部局から連絡精算
規格：(株)日本医化器械製作所
LPH-1P-NC×6外
(140015004592)
管理番号：IPSR_421
設置年：2009
拠点：09.資源植物科学研究所
詳細
共焦点レーザー走査型顕微鏡システム
自己測定
学内 学外
担当部局から連絡精算
規格：オリンパス製BX61(共焦点レーザースキャンシステムFV1000-D)
(F11000000000054)
管理番号：IPSR_425
設置年：2011
拠点：08.植物科学最先端研究拠点ネットワーク
詳細
微量生体物質・植物ホルモン解析装置
依頼測定 学内 学外
担当部局から連絡精算
規格：米国アジレント・テクノロジー社製G6410BA
(F11000000000190)
管理番号：IPSR_427
設置年：2011
拠点：09.資源植物科学研究所
詳細
マルチストレス付加型植物育成装置
自己測定
部局内限定
担当部局から連絡精算
規格：三菱農機(製)MGC844
(F11000000000829)
管理番号：IPSR_429
設置年：2011
拠点：08.植物科学最先端研究拠点ネットワーク
詳細
ESDシステム、EBSDシステム付き電界放出形走査電子顕微鏡
自己測定
依頼測定 学内 学外
担当部局から連絡精算
規格：日本電子㈱製
JSM-7001F外
管理番号：IPM_454
設置年：2008
拠点：10.地球惑星科学研究拠点
詳細
