イオントラップ型質量分析装置/LCシステム(高性能気液相導入質量分析装置) 自己測定 依頼測定 学内 CFPOU精算 規格：Bruker Daltonics, HCT 管理番号：DIA_350-2 ／ 設置年：2009 拠点：分析計測・極低温部門分析計測分野
飛行時間型質量分析装置(高性能気液相導入質量分析装置) 自己測定 依頼測定 学内 学外 CFPOU精算 規格：Bruker Daltonics, micrOTOF II 管理番号：DIA_350-3 ／ 設置年：2009 拠点：分析計測・極低温部門分析計測分野
高圧変形ガイドブロック 自己測定 依頼測定 学内 学外 担当部局から連絡精算 規格：(株)シーティーファクトリー製 CTF-GB/D111-OU17 管理番号：IPM_568 ／ 設置年：2017 拠点：10.地球惑星科学研究拠点
高分解能マルチコレクターICP質量分析計 自己測定 依頼測定 学内 学外 担当部局から連絡精算 規格：独国サーモフィッシャーサイエンティフィック社製 NEPTUNE Plus外 管理番号：IPM_569 ／ 設置年：2017 拠点：10.地球惑星科学研究拠点
表面電離型質量分析計 自己測定 依頼測定 学内 学外 担当部局から連絡精算 規格：独国サーモフィッシャーサイエンティフィック社製 TRITON Plus Bundle 2 SEM/RPQ外 管理番号：IPM_570 ／ 設置年：2017 拠点：10.地球惑星科学研究拠点
高分解能核磁気共鳴装置 自己測定 依頼測定 学内 学外 担当部局から連絡精算 規格：独国ブルカー・バイオスピン社製 AVANCE NEO 400型 管理番号：IPM_571 ／ 設置年：2017 拠点：10.地球惑星科学研究拠点
表面電離型質量分析計 自己測定 依頼測定 学内 学外 担当部局から連絡精算 規格：独国サーモフィッシャーサイエンティフィック社製 TRITON Plus質量分析計 管理番号：IPM_572 ／ 設置年：2018 拠点：10.地球惑星科学研究拠点
高分解能ICP質量分析計 自己測定 依頼測定 学内 学外 担当部局から連絡精算 規格：独国サーモフィッシャーサイエンティフィック社製iCAP TQ 管理番号：IPM_573 ／ 設置年：2018 拠点：10.地球惑星科学研究拠点
二次イオン質量分析計 依頼測定 学内 学外 担当部局から連絡精算 規格：フランス共和国 カメカ社製 IMS 1280-HR 管理番号：IPM_574 ／ 設置年：2018 拠点：10.地球惑星科学研究拠点
液体シンチレーションカウンター 自己測定 依頼測定 学内 学外 要利用資格 CFPOU精算 規格：Perkin Elmer社: Tri-Carb4810TR 管理番号：DGP_597 ／ 設置年：2016 拠点：ゲノム・プロテオーム解析部門
セルソーターFACSAriaIII 自己測定 依頼測定 学内 学外 要利用資格 CFPOU精算 規格：米国ベクトン・ディッキンソン社製 4レーザー10カラータイプBDFACSAriaⅢ 管理番号：CRL_602 ／ 設置年：2018 拠点：医学部共同実験室
MS部/DESIイメージング部(有機物質量分析計システム) 自己測定 依頼測定 学内 学外 担当部局から連絡精算 規格：米国サーモフィッシャサイエンティフィック社製Orbitrap Fusion 外 管理番号：IPM_631 ／ 設置年：2018 拠点：10.地球惑星科学研究拠点
低分子構造解析部(有機物質量分析計システム) 自己測定 依頼測定 学内 学外 担当部局から連絡精算 規格：米国サーモフィッシャサイエンティフィック社製VanquishOrbitrap Fusion 外 管理番号：IPM_632 ／ 設置年：2018 拠点：10.地球惑星科学研究拠点
タンパク・ペプチド解析部(有機物質量分析計システム) 自己測定 依頼測定 学内 学外 担当部局から連絡精算 規格：米国サーモフィッシャサイエンティフィック社製EASY-nLC 1200 外 管理番号：IPM_633 ／ 設置年：2018 拠点：10.地球惑星科学研究拠点
GCMS部(有機物質量分析計システム) 自己測定 依頼測定 学内 学外 担当部局から連絡精算 規格：米国サーモフィッシャサイエンティフィック社製ISQ LT,EI,真空ロック,300 管理番号：IPM_634 ／ 設置年：2018 拠点：10.地球惑星科学研究拠点
全真空赤外顕微鏡システム 自己測定 依頼測定 学内 学外 担当部局から連絡精算 規格：日本分光(株)製 IRT-5200IPMY 管理番号：IPM_637 ／ 設置年：2017 拠点：10.地球惑星科学研究拠点
600MHz NMR装置(JEOL社) 自己測定 依頼測定 学内 学外 CFPOU精算 規格：JEOL社 JNMECZ600R 管理番号：DIA_639 ／ 設置年：2019 拠点：分析計測・極低温部門分析計測分野
遠心エバポレータ(分析試料濃縮用) 自己測定 依頼測定 学内 学外 規格：EYELA 遠心濃縮機CVE-3110/冷却トラップUT-2000/Phil ポンプ 管理番号：DIA_663 ／ 設置年：2019 拠点：分析計測・極低温部門分析計測分野
微細構造リモート観察システム1. 走査電子顕微鏡(SEM) 自己測定 依頼測定 学内 学外 CFPOU精算 規格：株式会社日立ハイテク SU9000型 管理番号：DIA_716 ／ 設置年：2022 拠点：分析計測・極低温部門分析計測分野
