微細構造リモート観察システム1. 走査電子顕微鏡(SEM) 自己測定 依頼測定 学内 学外 CFPOU精算 規格：株式会社日立ハイテク SU9000型 管理番号：DIA_716 ／ 設置年：2022 拠点：分析計測・極低温部門分析計測分野
多機能有機試料自動前処理システム 自己測定 依頼測定 学内 学外 規格：瑞国CTC社製RTC-PAL2000ベーシック外 管理番号：IPM_670 ／ 設置年：2021 拠点：10.地球惑星科学研究拠点
熱重量-示差熱分析システム(TG-DTA) 自己測定 依頼測定 学内 学外 CFPOU精算 規格：株式会社 島津製作所 DTG-60AH 管理番号：SKY_05C ／ 設置年：2019 拠点：新共用事業
ウルトラミクロトーム_CRL_694 自己測定 依頼測定 学内 学外 担当部局から連絡精算 規格：REICHERT ULTRACUT S 管理番号：CRL_694 ／ 設置年：1992 拠点：医学部共同実験室
カーボン蒸着_CRL_695 自己測定 依頼測定 学内 学外 担当部局から連絡精算 規格：Sanyu electron SVC-700TM 管理番号：CRL_695 ／ 設置年：2020 拠点：医学部共同実験室
オスミウムコーター_CRL_696 自己測定 依頼測定 学内 学外 担当部局から連絡精算 規格：Vacuum device HCP-1S 管理番号：CRL_696 ／ 設置年：2005 拠点：医学部共同実験室
軟X線分光計付きフィールドエミッション電子プローブマイクロアナライザ 自己測定 依頼測定 学内 学外 担当部局から連絡精算 規格：日本電子(株)製JXA-IHP200F外 管理番号：IPM_n02 ／ 設置年：2021 拠点：
軟X線分光計付きﾌｨｰﾙﾄﾞｴﾐｯｼｮﾝ電子ﾌﾟﾛｰﾌﾞﾏｲｸﾛｱﾅﾗｲｻﾞ 自己測定 依頼測定 学内 学外 担当部局から連絡精算 規格：日本電子(株)製JXA-IHP200F外 管理番号：IPM_n02 ／ 設置年：2021 拠点：10.地球惑星科学研究拠点
クライオ電子顕微鏡 自己測定 依頼測定 学内 学外 CFPOU精算 規格：Thermo Scientific Krios G4-OUS01 管理番号：RIIS-n01 ／ 設置年：2023 拠点：異分野基礎科学研究所
GeoMx（デジタル空間プロファイラー） 依頼測定 学内 学外 担当部局から連絡精算 規格：NanoString Technologies社 GeoMx Digital Spatial Profiler GMX 管理番号：CGM_001 ／ 設置年：2021 拠点：ゲノム医療総合推進センター
Prep Station/Digital Analyzer（デジタルオミックスアナライザー） 依頼測定 学内 学外 担当部局から連絡精算 規格：Nano String Technologies社 nCounter Analysis System-FLEX NCT-SYST-FLEX 管理番号：CGM_002 ／ 設置年：2020 拠点：ゲノム医療総合推進センター
10x（次世代シーケンサー用シングルセル解析前処理装置） 依頼測定 学内 学外 担当部局から連絡精算 規格：10xGenomics社 Chlomium iXスタンダードシステム1000328 管理番号：CGM_003 ／ 設置年：2022 拠点：ゲノム医療総合推進センター
