X線照射装置（マウス・培養細胞） 自己測定 学内 CFPOU精算 規格：(株)日立エンジニアリング・アンド・サービス製 MBR-1520R-3型 管理番号：DAR_002 ／ 設置年：2011 拠点：動物資源部門
CRL_465_DNAシーケンサー 自己測定 依頼測定 学内 担当部局から連絡精算 規格：米国アプライドバイオシステムズABI PRISM 3100 ジェネティックアナライザ3100-20 管理番号：CRL_465 ／ 設置年：2002 拠点：医学部共同実験室
走査電子顕微鏡(SEM)(エネルギー分散型X線分析装置含む) 学内 CFPOU精算 規格：本体: キーエンスSEMVE-9800 (資産管理番号:140015003044) 分析装置: EDAX社EDX検出装置 (資産管理番号:140015003092) 管理番号：487 ／ 設置年：2008 拠点：分析計測・極低温部門分析計測分野
生体分子間相互作用解析装置 自己測定 学内 学外 要利用資格 CFPOU精算 規格：GEヘルスケア: BiacoreX100 PlusPackage Ver.2 管理番号：DGP_492 ／ 設置年：2009 拠点：ゲノム・プロテオーム解析部門
ルミノ・イメージアナライザー 自己測定 学内 学外 要利用資格 CFPOU精算 規格：GEヘルスケア: ImageQuant LAS 4010システム 管理番号：DGP_493 ／ 設置年：2009 拠点：ゲノム・プロテオーム解析部門
赤外顕微鏡システム 自己測定 依頼測定 学内 学外 担当部局から連絡精算 規格：米国サーモフィッシャーサイエンティフィック社製Micro FT-IR 管理番号：IPM_497 ／ 設置年：2011 拠点：10.地球惑星科学研究拠点
顕微レーザーラマンシステム 自己測定 依頼測定 学内 学外 担当部局から連絡精算 規格：DXR Raman Microscope 管理番号：IPM_498 ／ 設置年：2011 拠点：10.地球惑星科学研究拠点
(植物ストレス応答反応解析システム)レーザーマイクロダイセクションシステム 自己測定 部局内限定 担当部局から連絡精算 規格：米国ライフテクノロジーズ社製 ARCTURUSXT-EB外 (F12000000004459) 管理番号：IPSR_503 ／ 設置年：2012 拠点：資源植物科学研究所
(植物ストレス応答反応解析システム)イオントラップガスクロマトグラフ質量分析装置 依頼測定 部局内限定 担当部局から連絡精算 規格：米国アジレント・テクノロジーズ・インク社製G3936AA240MS外 (F12000000004461) 管理番号：IPSR_504 ／ 設置年：2012 拠点：資源植物科学研究所
高分解能誘導結合プラズマ質量分析システム 自己測定 依頼測定 学内 学外 担当部局から連絡精算 規格：独国サーモフィッシャーサイエンティフック社製 ELEMENT XR 管理番号：IPM_506 ／ 設置年：2013 拠点：10.地球惑星科学研究拠点
MALDI-TOF型質量分析システム 自己測定 依頼測定 学内 学外 要利用資格 CFPOU精算 規格：ブルカージャパン株式会社： UltrafleXtreme... 管理番号：DGP_507 ／ 設置年：2009 拠点：ゲノム・プロテオーム解析部門
リアルタイムPCR装置 自己測定 学内 学外 要利用資格 CFPOU精算 規格：Life Technologies社: Step one plus Real-time PCR 管理番号：DGP_508 ／ 設置年：2009 拠点：ゲノム・プロテオーム解析部門
卓上型超遠心機 自己測定 学内 学外 要利用資格 CFPOU精算 規格：Beckmann coulter社: Optima-Max TL Ultracentrifuge 管理番号：DGP_509 ／ 設置年：2013 拠点：ゲノム・プロテオーム解析部門
DGP_512_液体シンチレーションカウンター 自己測定 学内 学外 要利用資格 CFPOU精算 規格：Perkin Elmer社: TriCarb2800TRs 管理番号：DGP_512 ／ 設置年：2005 拠点：ゲノム・プロテオーム解析部門
★テスト公開★He液化システム用回収圧縮機(増設) 自己測定 学内 規格：Bauer社G18.1-15-5、風量33.6Nm3/h 管理番号：★テスト公開★DIC_519 ／ 設置年：2008 拠点：分析計測・極低温部門極低温分野
★テスト公開★He液化システム用液体He貯槽(更新) 自己測定 学内 規格：Cti-Cryenco社LC1000 管理番号：★テスト公開★DIC_520 ／ 設置年：1986 拠点：分析計測・極低温部門極低温分野
電界放出型電子プローブマイクロアナライザー 自己測定 依頼測定 学内 学外 担当部局から連絡精算 規格：日本電子(株)製 JXA-8530F 管理番号：IPM_523 ／ 設置年：2014 拠点：10.地球惑星科学研究拠点
