★テスト公開★He液化システム用回収圧縮機(増設) 自己測定 学内 規格：Bauer社G18.1-15-5、風量33.6Nm3/h 管理番号：★テスト公開★DIC_519 ／ 設置年：2008 拠点：分析計測・極低温部門極低温分野
★テスト公開★He液化システム用液体He貯槽(更新) 自己測定 学内 規格：Cti-Cryenco社LC1000 管理番号：★テスト公開★DIC_520 ／ 設置年：1986 拠点：分析計測・極低温部門極低温分野
電界放出型電子プローブマイクロアナライザー 自己測定 依頼測定 学内 学外 担当部局から連絡精算 規格：日本電子(株)製 JXA-8530F 管理番号：IPM_523 ／ 設置年：2014 拠点：10.地球惑星科学研究拠点
(細胞ストレス生理解析システム)オーサイトクランプ測定システム 自己測定 部局内限定 担当部局から連絡精算 規格：インターメディカル製 IM-OCCLAMP-S (F11000000000054.000) 管理番号：IPSR_532 ／ 設置年：2011 拠点：資源植物科学研究所
(細胞ストレス生理解析システム)パッチクランプ測定システム 自己測定 部局内限定 担当部局から連絡精算 規格：インターメディカル製 IM-PACLAMP-S (F11000000000054.001) 管理番号：IPSR_533 ／ 設置年：2011 拠点：09.資源植物科学研究所
(細胞ストレス生理解析システム)光合成蒸散測定装置 自己測定 依頼測定 学内 学外 担当部局から連絡精算 規格：メイワフォーシス株式会社製 LI-6400XTR、6400-17L (F11000000000054.007) 管理番号：IPSR_534 ／ 設置年：2011 拠点：08.植物科学最先端研究拠点ネットワーク
高速液体クロマトグラフ 自己測定 部局内限定 担当部局から連絡精算 規格：米国アジレント・テクノロジー社製 (F11000000000190) 管理番号：IPSR_535 ／ 設置年：2011 拠点：09.資源植物科学研究所
薄膜X線解析装置（X'pert PRO MRD) 自己測定 部局内限定 その他精算 規格：パナリティカル社 Xpert-PRO MRDシステム (平成15年原取) 管理番号：543 ／ 設置年：2014 拠点：その他のグループに所属（工学部）
赤外分光光度計 自己測定 依頼測定 学内 学外 担当部局から連絡精算 規格：日本分光(株)製 FT/IR-6200(NIR) 管理番号：IPM_554 ／ 設置年：2008 拠点：10.地球惑星科学研究拠点
モジュラー顕微ラマンシステム 自己測定 依頼測定 学内 学外 担当部局から連絡精算 規格：(株)堀場製作所製 iHR550-FIBMIC-DE-BXFM 管理番号：IPM_556 ／ 設置年：2016 拠点：10.地球惑星科学研究拠点
CRL_566_リアルタイムPCR 自己測定 学内 学外 担当部局から連絡精算 規格：米国ライフテクノロジーズ社StepONE Plus 管理番号：CRL_566 ／ 設置年：2009 拠点：医学部共同実験室
CRL_567_マイクロプレートリーダー 自己測定 学内 学外 担当部局から連絡精算 規格：モレキュラーデバイス Flexstation3 管理番号：CRL_567 ／ 設置年：2010 拠点：医学部共同実験室
生物用共焦点レーザ走査型顕微鏡 自己測定 学内 学外 要利用資格 CFPOU精算 規格：生物用共焦点レーザ走査型顕微鏡 オリンパス(株)製FV1200-IX83 レンダリング/解析システム アンドール・テクノロジーPLC社製 管理番号：DGP_13 ／ 設置年：2013 拠点：ゲノム・プロテオーム解析部門
