機器・サービス

走査型電子顕微鏡
自己測定 依頼測定 学内 学外 担当部局から連絡精算
規格:(株)日立ハイテクノロジーズS-4800型外

管理番号:CRL_336 / 設置年:2009

拠点:05.医学部共同実験室

透過型電子顕微鏡
自己測定 依頼測定 学内 学外 担当部局から連絡精算
規格:(株)日立ハイテクノロジーズH-7650型外

管理番号:CRL_339 / 設置年:2009

拠点:05.医学部共同実験室

DNAシーケンサー
自己測定 依頼測定 学内 学外 担当部局から連絡精算
規格:米国ライフテクノロジーApplied Biosystems 3130xl ジェネティックアナライザJP3130XLL

管理番号:CRL_342 / 設置年:2009

拠点:05.医学部共同実験室

レーザーラマン分光光度計
自己測定 学内 CFPOU精算
規格:日本分光(株)製NRS-3100(分析計測分野移設 2023年3月)

管理番号:DIA_343 / 設置年:2010

拠点:分析計測・極低温部門分析計測分野

セルファンクションイメージャー
自己測定 学内 担当部局から連絡精算
規格:米国サーモフィッシャーサイエンティフィック Cellomics ArrayScan VTI HCS Reader CX03102A-5

管理番号:ARCOCS_345 / 設置年:2009

拠点:12.歯学部先端領域研究センター

表面粗さ測定器
自己測定 学内 学外
規格:ミツトヨSV-524

管理番号:355 / 設置年:1998

拠点:分析計測・極低温部門分析計測分野

SQUID式磁化測定装置
依頼測定 学内
規格:米国カンタム・デザイン社MPMS-SQUID VSM 7テスラ磁気特性測定システム

管理番号:367 / 設置年:2009

拠点:分析計測・極低温部門分析計測分野

分析STEM
自己測定 依頼測定 学内 学外
規格:JEM-2100F EDS, EELS(使用不能)

管理番号:372 / 設置年:2009

拠点:30.その他のグループに所属(ナノ構造解析・分析ユニット)

分析SEM/FIB複合機
自己測定 依頼測定 学内 学外
規格:JIB-4500, EDS, EBSP(使用不可)

管理番号:373 / 設置年:2009

拠点:30.その他のグループに所属(ナノ構造解析・分析ユニット)

表面電離型質量分析装置
学内 学外
規格:フィニガン・マット・インスツルメンツ・インク製MAT262

管理番号:396 / 設置年:1995

拠点:分析計測・極低温部門分析計測分野

ESI-イオントラップ型質量分析システム
依頼測定 学内 学外 要利用資格 CFPOU精算
規格:ブルカージャパン株式会社: amaZonETD-OF、 nanoElute、 マトリックスサイエンス社: MASCOT server(version 2.8.2)、 MASCOT...

管理番号:DGP_403 / 設置年:2010

拠点:04.ゲノム・プロテオーム解析部門

省エネ型組換え植物育成装置
自己測定 部局内限定 担当部局から連絡精算
規格:(株)日本医化器械製作所 LPH-1P-NC×6外 (140015004592)

管理番号:IPSR_421 / 設置年:2009

拠点:09.資源植物科学研究所

超遠心機
自己測定 学内 学外 担当部局から連絡精算
規格:米国ベックマン・コールター社製OptimaL-100Kシステム(ロータ付) (F11000000000054)

管理番号:IPSR_424 / 設置年:2011

拠点:09.資源植物科学研究所

共焦点レーザー走査型顕微鏡システム
自己測定 学内 学外 担当部局から連絡精算
規格:オリンパス製BX61(共焦点レーザースキャンシステムFV1000-D) (F11000000000054)

管理番号:IPSR_425 / 設置年:2011

拠点:08.植物科学最先端研究拠点ネットワーク

三重共鳴MASプローブ
自己測定 学内 学外 担当部局から連絡精算
規格:米国バリアン社製

管理番号:IPM_452 / 設置年:2007

拠点:10.地球惑星科学研究拠点