機器・サービス

放射光電子分光装置
自己測定 依頼測定 学内 学外 CFPOU精算
規格:MODEL HS-54SR

管理番号:HiSOR_14 / 設置年:1998

拠点:16.放射光構造解析装置運営委員会(全学)

汎用放射光光電子顕微鏡
自己測定 依頼測定 学内 学外 CFPOU精算
規格:GIM2-L

管理番号:HiSOR_15-1 / 設置年:1998

拠点:16.放射光構造解析装置運営委員会(全学)

透過型電子顕微鏡
自己測定 依頼測定 学内 学外 担当部局から連絡精算
規格:日立 H-7100S 外

管理番号:CRL_186 / 設置年:1991

拠点:05.医学部共同実験室

タンパク解析用LC-MSシステム
依頼測定 学内 学外 担当部局から連絡精算
規格:米国アジレント・テクノロジー ナノフロープロテオミクスソリューションシステム AGILENT XCTPLUS

管理番号:CRL_246 / 設置年:2005

拠点:医学部共同実験室

5000トン超高圧発生装置
自己測定 依頼測定 学内 学外 担当部局から連絡精算
規格:住友重機械工業㈱製 SHP-5000外

管理番号:IPM_268 / 設置年:1978

拠点:10.地球惑星科学研究拠点

1000トン超高圧発生装置
自己測定 依頼測定 学内 学外 担当部局から連絡精算
規格:住友重機械工業㈱製

管理番号:IPM_269 / 設置年:1986

拠点:10.地球惑星科学研究拠点

質量分析システム
自己測定 依頼測定 学内 学外 担当部局から連絡精算
規格:VGアイソトープス VG5400外

管理番号:IPM_272 / 設置年:1987

拠点:10.地球惑星科学研究拠点

二次イオン質量分析計
依頼測定 学内 学外 担当部局から連絡精算
規格:カメカ社製IMS-5F外

管理番号:IPM_275 / 設置年:1993

拠点:10.地球惑星科学研究拠点

内熱式ガス圧装置
自己測定 依頼測定 学内 学外 担当部局から連絡精算
規格:㈱神戸製鋼所製 DR.HIP

管理番号:IPM_276 / 設置年:1994

拠点:10.地球惑星科学研究拠点

マグマ物性測定システム
自己測定 依頼測定 学内 学外 担当部局から連絡精算
規格:住友重機械工業㈱製 UHP2000-20

管理番号:IPM_282 / 設置年:1995

拠点:10.地球惑星科学研究拠点

低真空走査型電子顕微鏡
自己測定 依頼測定 学内 学外 担当部局から連絡精算
規格:日立製作所 S-3200N

管理番号:CRL_299 / 設置年:1995

拠点:05.医学部共同実験室

6軸加圧装置
自己測定 依頼測定 学内 学外 担当部局から連絡精算
規格:川井型外

管理番号:IPM_305 / 設置年:2006

拠点:10.地球惑星科学研究拠点

微細結晶方位解析システム
自己測定 依頼測定 学内 学外 担当部局から連絡精算
規格:日本電子㈱ JSM-7001F 外

管理番号:IPM_322 / 設置年:2009

拠点:10.地球惑星科学研究拠点

粉末X線回折装置
自己測定 依頼測定 学内 学外 担当部局から連絡精算
規格:㈱リガク製

管理番号:IPM_323 / 設置年:2009

拠点:10.地球惑星科学研究拠点

微小部X線回折装置
自己測定 依頼測定 学内 学外 担当部局から連絡精算
規格:㈱リガク製

管理番号:IPM_324 / 設置年:2009

拠点:10.地球惑星科学研究拠点

高精度安定同位体比質量分析計
自己測定 依頼測定 学内 学外 担当部局から連絡精算
規格:独国サーモフィッシャーサイエンティフック社製

管理番号:IPM_325 / 設置年:2009

拠点:10.地球惑星科学研究拠点

希ガス用同位対比測定用質量分析計
自己測定 依頼測定 学内 学外 担当部局から連絡精算
規格:独国サーモフィッシャーサイエンティフック社製

管理番号:IPM_326 / 設置年:2009

拠点:10.地球惑星科学研究拠点

透過電子顕微鏡
自己測定 依頼測定 学内 学外 担当部局から連絡精算
規格:日本電子㈱製

管理番号:IPM_327 / 設置年:2009

拠点:10.地球惑星科学研究拠点