研究開発用マグネトロンスパッタリング装置 自己測定 依頼測定 学内 学外 担当部局から連絡精算 規格：芝浦メカトロニクス（株）製CFS 管理番号：IPM_330 ／ 設置年：2010 拠点：10.地球惑星科学研究拠点
透過型電子顕微鏡 依頼測定 学内 学外 担当部局から連絡精算 規格：㈱日立ハイテクノロジーズ社製Ⅱ-7650型外 (140015004341) 管理番号：IPSR_331 ／ 設置年：2009 拠点：09.資源植物科学研究所
DNAシーケンサー 依頼測定 学内 学外 担当部局から連絡精算 規格：米国ライフテクノロジーズ社製 Applied Biosystems 3130xl 外 管理番号：IPSR_333 ／ 設置年：2009 拠点：09.資源植物科学研究所
ICP質量分析装置 依頼測定 学内 学外 担当部局から連絡精算 規格：米国アジレント・テクノロジーズ社製 7500cx外 (140015004145) 管理番号：IPSR_335 ／ 設置年：2009 拠点：09.資源植物科学研究所
DNAシーケンサー 自己測定 依頼測定 学内 学外 担当部局から連絡精算 規格：米国ライフテクノロジーApplied Biosystems 3130xl ジェネティックアナライザJP3130XLL 管理番号：CRL_342 ／ 設置年：2009 拠点：医学部共同実験室
ガスクロマトグラフ質量分析装置(高性能気液相導入質量分析装置) 自己測定 依頼測定 学内 学外 要利用資格 CFPOU精算 規格：島津, QP2010 Plus 管理番号：DIA_350 ／ 設置年：2009 拠点：分析計測・極低温部門分析計測分野
SQUID式磁化測定装置 自己測定 依頼測定 学内 学外 CFPOU精算 規格：米国カンタム・デザイン社MPMS-SQUID VSM 7テスラ磁気特性測定システム 管理番号：367 ／ 設置年：2009 拠点：分析計測・極低温部門分析計測分野
分析STEM 自己測定 依頼測定 学内 学外 規格：JEM-2100F EDS, EELS(使用不能) 管理番号：372 ／ 設置年：2009 拠点：30.その他のグループに所属(ナノ構造解析・分析ユニット)
分析SEM/FIB複合機 自己測定 依頼測定 学内 学外 規格：JIB-4500, EDS, EBSP(使用不可) 管理番号：373 ／ 設置年：2009 拠点：30.その他のグループに所属(ナノ構造解析・分析ユニット)
ESI-イオントラップ型質量分析システム 依頼測定 学内 学外 要利用資格 CFPOU精算 規格：ブルカージャパン株式会社： amaZonETD-OF、 nanoElute、 マトリックスサイエンス社: MASCOT server(version 2.8.2)、 MASCOT... 管理番号：DGP_403 ／ 設置年：2010 拠点：ゲノム・プロテオーム解析部門
微量生体物質・植物ホルモン解析装置 依頼測定 学内 学外 担当部局から連絡精算 規格：米国アジレント・テクノロジー社製G6410BA (F11000000000190) 管理番号：IPSR_427 ／ 設置年：2011 拠点：09.資源植物科学研究所
ESDシステム、EBSDシステム付き電界放出形走査電子顕微鏡 自己測定 依頼測定 学内 学外 担当部局から連絡精算 規格：日本電子㈱製 JSM-7001F外 管理番号：IPM_454 ／ 設置年：2008 拠点：10.地球惑星科学研究拠点
DNAシーケンサー 自己測定 依頼測定 学内 学外 担当部局から連絡精算 規格：米国アプライドバイオシステムズABI PRISM 3100 ジェネティックアナライザ3100-20 管理番号：CRL_465 ／ 設置年：2002 拠点：医学部共同実験室
DNAシーケンサー 自己測定 依頼測定 学内 学外 要利用資格 CFPOU精算 規格：米国ライフテクノロジーズ製 Applied Biosystems 3500 ジェネティックアナライザ3500-250 管理番号：DGP_481 ／ 設置年：2012 拠点：ゲノム・プロテオーム解析部門
赤外顕微鏡システム 自己測定 依頼測定 学内 学外 担当部局から連絡精算 規格：米国サーモフィッシャーサイエンティフィック社製 管理番号：IPM_497 ／ 設置年：2011 拠点：10.地球惑星科学研究拠点
