機器・サービス

集束イオンビーム装置
自己測定 依頼測定 学内 学外 担当部局から連絡精算
規格:日本電子㈱製

管理番号:IPM_328 / 設置年:2009

拠点:10.地球惑星科学研究拠点

走査電子顕微鏡
自己測定 依頼測定 学内 学外 担当部局から連絡精算
規格:日本電子㈱製

管理番号:IPM_329 / 設置年:2009

拠点:10.地球惑星科学研究拠点

透過型電子顕微鏡
依頼測定 学内 学外 担当部局から連絡精算
規格:㈱日立ハイテクノロジーズ社製Ⅱ-7650型外 (140015004341)

管理番号:IPSR_331 / 設置年:2009

拠点:09.資源植物科学研究所

DNAシーケンサー
依頼測定 学内 学外 担当部局から連絡精算
規格:米国ライフテクノロジーズ社製 Applied Biosystems 3130xl 外

管理番号:IPSR_333 / 設置年:2009

拠点:09.資源植物科学研究所

ICP質量分析装置
依頼測定 学内 学外 担当部局から連絡精算
規格:米国アジレント・テクノロジーズ社製 7500cx外 (140015004145)

管理番号:IPSR_335 / 設置年:2009

拠点:09.資源植物科学研究所

走査型電子顕微鏡
自己測定 依頼測定 学内 学外 担当部局から連絡精算
規格:(株)日立ハイテクノロジーズS-4800型外

管理番号:CRL_336 / 設置年:2009

拠点:05.医学部共同実験室

透過型電子顕微鏡
自己測定 依頼測定 学内 学外 担当部局から連絡精算
規格:(株)日立ハイテクノロジーズH-7650型外

管理番号:CRL_339 / 設置年:2009

拠点:05.医学部共同実験室

DNAシーケンサー
自己測定 依頼測定 学内 学外 担当部局から連絡精算
規格:米国ライフテクノロジーApplied Biosystems 3130xl ジェネティックアナライザJP3130XLL

管理番号:CRL_342 / 設置年:2009

拠点:05.医学部共同実験室

SQUID式磁化測定装置
依頼測定 学内
規格:米国カンタム・デザイン社MPMS-SQUID VSM 7テスラ磁気特性測定システム

管理番号:367 / 設置年:2009

拠点:分析計測・極低温部門分析計測分野

分析STEM
自己測定 依頼測定 学内 学外
規格:JEM-2100F EDS, EELS(使用不能)

管理番号:372 / 設置年:2009

拠点:30.その他のグループに所属(ナノ構造解析・分析ユニット)

分析SEM/FIB複合機
自己測定 依頼測定 学内 学外
規格:JIB-4500, EDS, EBSP(使用不可)

管理番号:373 / 設置年:2009

拠点:30.その他のグループに所属(ナノ構造解析・分析ユニット)

ESI-イオントラップ型質量分析システム
依頼測定 学内 学外 要利用資格 CFPOU精算
規格:ブルカージャパン株式会社: amaZonETD-OF、 nanoElute、 マトリックスサイエンス社: MASCOT server(version 2.8.2)、 MASCOT...

管理番号:DGP_403 / 設置年:2010

拠点:04.ゲノム・プロテオーム解析部門

DNAシーケンサー
自己測定 依頼測定 学内 学外 担当部局から連絡精算
規格:米国アプライドバイオシステムズABI PRISM 3100 ジェネティックアナライザ3100-20

管理番号:CRL_465 / 設置年:2002

拠点:05.医学部共同実験室

DNAシーケンサー
自己測定 依頼測定 学内 学外 要利用資格 CFPOU精算
規格:米国ライフテクノロジーズ製 Applied Biosystems 3500 ジェネティックアナライザ3500-250

管理番号:DGP_481 / 設置年:2012

拠点:04.ゲノム・プロテオーム解析部門

圧力測定用ラマンユニット
自己測定 依頼測定 学内 学外 担当部局から連絡精算
規格:日本分光(株)製 RMP-DAC

管理番号:IPM_496 / 設置年:2009

拠点:10.地球惑星科学研究拠点

赤外顕微鏡システム
自己測定 依頼測定 学内 学外 担当部局から連絡精算
規格:米国サーモフィッシャーサイエンティフィック社製

管理番号:IPM_497 / 設置年:2011

拠点:10.地球惑星科学研究拠点